[发明专利]一种极快前沿极高幅值电压的间接测量方法在审
| 申请号： | 201510223662.X | 申请日： | 2015-05-05 |
| 公开（公告）号： | CN104849529A | 公开（公告）日： | 2015-08-19 |
| 发明（设计）人： | 解江远;何鹏军;张帆;金兆鑫;赵程光;田川;王亚杰;蒋丹;李奇威;荆晓鹏;谢军 | 申请（专利权）人： | 西安电子工程研究所 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00 |
| 代理公司： | 西北工业大学专利中心 61204 | 代理人： | 王鲜凯 |
| 地址： | 710100 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 极快 前沿 极高 电压 间接 测量方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种极快前沿极高幅值电压的间接测量方法，其特征在于步骤如下：
步骤1：测量辐射天线的等效电容C；
步骤2：测量开始充电时间T1到天线辐射时间T2之间的电流i(t)；
步骤3：通过公式计算得到天线的极快前沿极高幅值的充电电压。
2.根据权利要求1所述的一种极快前沿极高幅值电压的间接测量方法，其特征在于步骤1的等效电容是通过LCR仪测量。
3.根据权利要求1所述的一种极快前沿极高幅值电压的间接测量方法，其特征在于步骤2的电流是通过罗氏线圈测量，所述的罗氏线圈具备测试纳秒、次纳秒脉冲电流的能力。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子工程研究所，未经西安电子工程研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510223662.X/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：电表用小电流光纤传感器
- 下一篇：用于大型测试电路板的固定夹具
