[发明专利]一种用于汽车电磁阀性能测试的PWM电源在审
申请号: | 201510226769.X | 申请日: | 2015-05-07 |
公开(公告)号: | CN104868889A | 公开(公告)日: | 2015-08-26 |
发明(设计)人: | 罗宇新 | 申请(专利权)人: | 苏州固基电子科技有限公司 |
主分类号: | H03K7/08 | 分类号: | H03K7/08;H03K3/02;G01R31/00 |
代理公司: | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人: | 董建林 |
地址: | 215153 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 汽车 电磁阀 性能 测试 pwm 电源 | ||
技术领域
本发明涉及一种用于汽车电磁阀性能测试的PWM电源,属于技术领域。
背景技术
随着汽车工业的发展,汽车电磁阀的应用更加广泛,对电磁阀质量的要求也越来越高,这样对电磁阀出厂前的检测就显得尤为重要,除了需要检测其机械部分的质量,还需要提供其能长时间稳定运行的指标,因此十分有必要提供一种结构简单、能用于汽车电磁阀性能测试的PWM电源来对汽车电磁阀进行性能检测。
发明内容
为克服现有技术存在的不足,解决上述技术问题,本发明提出一种用于汽车电磁阀性能测试的PWM电源。
本发明采用如下技术方案:一种用于汽车电磁阀性能测试的PWM电源,其特征在于,包括单片机、LCD、键盘、D/A转换电路、数据存储芯片、PWM发生芯片、驱动电路、光耦隔离电路,所述单片机分别与所述LCD、所述键盘、所述数据存储芯片、所述D/A转换电路相连接,所述D/A转换电路分别与所述PWM发生芯片、所述驱动电路相连接,所述PWM发生芯片与所述光耦隔离电路相连接,所述光耦隔离电路与所述驱动电路相连接,所述驱动电路外接电磁阀进行输出。
优选地,键盘用来设置系统运行状态和系统参数,LCD用来显示系统的运行状态、控制参数。
优选地,驱动电路外接保护电路,用来保护驱动电路,防止发生过压、过电流的情况。
优选地,光耦隔离电路用于将PWM控制信号和电压幅度放大信号隔离开,消除输入回路中的噪声信号、输出回路中的共地杂波信号。
优选地,光耦隔离电路采用光电隔离器6N137。
优选地,单片机采用AT89C55单片机。
优选地,PWM发生芯片采用MAX038芯片和SG3525芯片。
优选地,数据存储芯片采用AT24C02EEPROM芯片。
本发明所达到的有益效果:采用高精度函数发生芯片MAX038和脉宽调制SG3525芯片联合构成PWM发生器,通过单片机经过D/A来进行控制,产生的PWM方波非常稳定,实现了占空比、频率和幅度可以按照设定值连续变化,解决了电磁阀工作性能无法测试的难题。
附图说明
图1是本发明的结构框图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的技术方案,而不能以此来限制本发明的保护范围。
图1是本发明的结构框图,本发明提出一种用于汽车电磁阀性能测试的PWM电源,其特征在于,包括单片机、LCD、键盘、D/A转换电路、数据存储芯片、PWM发生芯片、驱动电路、光耦隔离电路,单片机分别与LCD、键盘、数据存储芯片、D/A转换电路相连接,D/A转换电路分别与PWM发生芯片、驱动电路相连接,PWM发生芯片与光耦隔离电路相连接,光耦隔离电路与驱动电路相连接,驱动电路外接电磁阀进行输出;键盘用来设置系统运行状态和系统参数,LCD用来显示系统的运行状态、控制参数;驱动电路外接保护电路,用来保护驱动电路,防止发生过压、过电流的情况。
光耦隔离电路用于将PWM控制信号和电压幅度放大信号隔离开,消除输入回路中的噪声信号、输出回路中的共地杂波信号;光耦隔离电路采用光电隔离器6N137;单片机采用AT89C55单片机;PWM发生芯片采用MAX038芯片和SG3525芯片;数据存储芯片采用AT24C02EEPROM芯片。
本发明的工作过程如下:首先通过键盘在LCD上设置好各参数(包括频率、占空比、幅度及变化时间),在按下运行键之后,单片机读入设置好的参数,经过控制计算,然后将得到的数据信息存储到EEPROM中方便以后查看和使用,完成后将控制信号分成两路,一路负责将设定的PWM波的相关信息(主要包括频率和占空比的数据信息)送给D/A,经过D/A转换后输出的模拟电压控制PWM发生芯片发出PWM脉冲,产生的PWM信号经过光耦隔离电路与电压幅度控制信号相隔离开,隔离后的PWM控制信号输出到驱动主电路中;另一路幅度控制信号直接由单片机经过D/A来给出,主电路负责整合两路信号,经过功率放大,最终输出所需的PWM方波给电磁阀。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明技术原理的前提下,还可以做出若干改进和变形,这些改进和变形也应视为本发明的保护范围。
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