[发明专利]热还原挥发富集低品位锗精矿中锗的方法

权利要求书

1.热还原挥发富集低品位锗精矿中锗的方法，其特征在于该方法通过以下的步骤实现：

第一步，真空泵抽真空，使炉内压力低于200 Pa；

第二步，将低品位锗精矿与磨细至120目以下的次亚磷酸钠混合均匀加入炉中加热，并密闭进料口及其它各系统，使炉内压力不低于1000 Pa；其中，次亚磷酸钠的量为低品位锗精矿重量的2.5~25 %；

第三步，对炉体进行加热，使炉子温度达到900-1100 ℃，保持0.5-2h，然后往炉内充入氮气，使炉内的压力上升至少2000帕，停止加热，使炉体冷却至200 ℃后停止通氮气；

第四步，打开收尘系统收集炉内挥发出的锗精矿；

第五步，在第四步获得的高含量锗精矿中加入浓度为 10 mol/L的工业盐酸、水和二氧化锰，混合均匀后升温至50-60 ℃氧化浸出1h后，进行蒸馏分离得到四氯化锗；其中，加入量为每公斤高含量锗精矿中加5-6升工业盐酸和0.5-1.0升水，二氧化锰加入重量为高含量锗精矿重量的1-2.5%。

2.权利要求1所述的热还原挥发富集低品位锗精矿中锗的方法，其特征在于该方法中加热方法采用微波加热的方式进行挥发。