[发明专利]基于核磁共振测井的储层分类方法

权利要求书

1.一种基于核磁共振测井的储层分类方法，其特征在于，包括：

获取待分类储层的待分类深度点的核磁共振横向弛豫时间T2谱；

根据所述核磁共振T2谱，计算待分类储层的待分类深度点的核磁共振孔隙度；

采用双峰高斯密度函数拟合所述核磁共振T2谱，得到表征待分类储层的待分类深度点的孔隙结构特征的参数；

根据待分类储层的待分类深度点的核磁共振孔隙度和表征待分类储层的待分类深度点的孔隙结构特征的参数，采用聚类分析的方法，对待分类储层的待分类深度点进行分类；

根据对待分类储层的待分类深度点的分类结果，确定待分类储层的储层类型。

2.如权利要求1所述的基于核磁共振测井的储层分类方法，其特征在于，根据所述核磁共振T2谱，计算待分类储层的待分类深度点的核磁共振孔隙度，包括：

将待分类储层的待分类深度点的核磁共振T2谱所有布点的幅度值求和，得到待分类深度点的核磁共振孔隙度。

3.如权利要求2所述的基于核磁共振测井的储层分类方法，其特征在于，按照如下公式计算待分类储层的待分类深度点的核磁共振孔隙度：

φ=Σi=1Npi;]]>

其中，φ为待分类储层的待分类深度点的核磁共振孔隙度，N为待分类储层的待分类深度点的核磁共振T2谱的布点数，p_i为待分类储层的待分类深度点的核磁共振T2谱第i个分量的幅度值。

4.如权利要求1所述的基于核磁共振测井的储层分类方法，其特征在于，采用双峰高斯密度函数拟合所述核磁共振T2谱，得到表征待分类储层的待分类深度点的孔隙结构特征的参数，包括：

将待分类储层的待分类深度点的核磁共振T2谱累加，得到待分类储层的待分类深度点的实测累积T2谱；

用双峰高斯密度函数的累积分布函数拟合所述实测累积T2谱，得到表征待分类储层的待分类深度点的孔隙结构特征的六个参数。

5.如权利要求4所述的基于核磁共振测井的储层分类方法，其特征在于，按照如下公式求取表征待分类储层的待分类深度点的孔隙结构特征的六个参数：

F(A)=||Ws[T2dist_cum(A)T2dist_cun_m]||22;]]>

其中，A＝[ω1，lgμ1，lgσ1，ω2，lgμ2，lgσ2]^T，W_S为数据权重矩阵，T2dist_cum为双峰高斯密度函数的累积分布函数，T2dist_cum_m为待分类深度点的实测累积T2谱；

通过求取F(A)的最小值，得到表征待分类储层的待分类深度点的孔隙结构特征的六个参数：ω1，μ1，σ1，ω2，μ2，σ2；

其中，ω1代表小孔占据的孔隙体积分数；ω2代表大孔占据的孔隙体积分数；μ1表示小孔对应的T2谱的均值；μ2表示大孔对应的T2谱的均值；σ1表示小孔对应的T2谱的标准差，代表小孔隙的均匀性；σ2表示大孔对应的T2谱的标准差，代表大孔隙的均匀性。