[发明专利]一种用于金属结构微小空间内的缺陷无损检测装置有效
申请号: | 201510231277.X | 申请日: | 2015-05-08 |
公开(公告)号: | CN104914157B | 公开(公告)日: | 2017-11-07 |
发明(设计)人: | 张思全 | 申请(专利权)人: | 上海海事大学 |
主分类号: | G01N27/90 | 分类号: | G01N27/90 |
代理公司: | 上海信好专利代理事务所(普通合伙)31249 | 代理人: | 尹兵,徐雯琼 |
地址: | 201306 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 金属结构 微小 空间 缺陷 无损 检测 装置 | ||
1.一种用于金属结构微小空间内的缺陷无损检测装置,其特征在于,对金属工件(101)表面的微小空间(103)内的缺陷(104)进行检测,获得该缺陷(104)的位置和形状信息;包含:
电磁探头(105),其伸入微小空间(103)内部;
主激励线圈(102),其平行设置在金属工件(101)的表面上方,且位于微小空间(103)的出口周围区域;
激励信号单元(110),其与所述的主激励线圈(102)相连接,用于产生激励信号并加载至主激励线圈(102),该主激励线圈(102)通电后,在其周围产生激励磁场,该激励磁场在微小空间(103)的内表面感应出涡电流,该涡电流遇到微小空间(103)内表面上的缺陷(104)后,流动方向发生变化,在微小空间(103)内的缺陷(104)周围产生与激励磁场方向相垂直的缺陷感应磁场,或通过感应微小空间(103)内的缺陷(104)产生线圈阻抗信号,并被电磁探头(105)感应并检测到;
控制单元(111),其分别与所述的激励信号单元(110)以及电磁探头(105)相连接,用于控制激励信号单元(110)产生激励信号,并接收处理由电磁探头(105)感应检测到的缺陷感应磁场,或通过感应缺陷(104)产生的线圈阻抗信号,形成微小空间(103)内的缺陷(104)的图像,以及缺陷(104)的位置形状报告。
2.如权利要求1所述的用于金属结构微小空间内的缺陷无损检测装置,其特征在于,所述的缺陷无损检测装置(100)还包含:
直流电源(112),其与所述的控制单元(111)以及电磁探头(105)相连接,提供工作电源;
存储单元,其与所述的控制单元(111)相连接,用于存储由电磁探头(105)感应检测到的缺陷感应磁场,或通过感应缺陷(104)产生的线圈阻抗信号,以及由控制单元(111)形成的缺陷(104)的图像和位置形状报告;
显示单元,其与所述的控制单元(111)相连接,用于显示由电磁探头(105)感应检测到的缺陷感应磁场,或通过感应缺陷(104)产生的线圈阻抗信号,以及由控制单元(111)形成的缺陷(104)的图像和位置形状报告。
3.如权利要求2所述的用于金属结构微小空间内的缺陷无损检测装置,其特征在于,所述的主激励线圈(102)为空心圆柱形线圈,其截面呈矩形;或者所述的主激励线圈(102)为空心长方体形线圈,其截面呈矩形。
4.如权利要求3所述的用于金属结构微小空间内的缺陷无损检测装置,其特征在于,所述的电磁探头(105)为多段可弯曲的分支结构,其适用的微小空间是直径小于5mm的圆形孔洞,或是直径小于5mm且内部存在弯曲结构的圆形孔洞;该电磁探头(105)包含:
多个依次连接的电磁探头分支(206),每个电磁探头分支(206)分别与所述的直流电源(112)相连接;
多个连接关节(203),相邻两个电磁探头分支(206)之间通过该连接关节(203)相连接;
视觉辅助系统,其设置在电磁探头(105)最前端的电磁探头分支(206)的头部(202)处。
5.如权利要求4所述的用于金属结构微小空间内的缺陷无损检测装置,其特征在于,所述的电磁探头分支(206)包含:
至少一个磁传感器(205),其设置在电磁探头分支(206)的前端,与所述的控制单元(111)相连接,将感应检测到的缺陷感应磁场信号发送至控制单元(111);
第一辅助激励线圈(204),其设置在电磁探头分支(206)的中部,与所述的激励信号单元(110)相连接,以加强激励磁场的信号。
6.如权利要求5所述的用于金属结构微小空间内的缺陷无损检测装置,其特征在于,所述的视觉辅助系统包含照明灯以及微型摄像头,该微型摄像头与所述的控制单元(111)相连接,将拍摄到的圆形孔洞的内部结构发送至控制单元(111)。
7.如权利要求6所述的用于金属结构微小空间内的缺陷无损检测装置,其特征在于,所述的连接关节(203)具有微机电控制组件,其与所述的控制单元(111)相连接,根据微型摄像头拍摄到的圆形孔洞的内部结构控制对应的连接关节(203)弯曲旋转。
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