[发明专利]一种用于金属结构微小空间内的缺陷无损检测装置有效

专利信息
申请号: 201510231277.X 申请日: 2015-05-08
公开(公告)号: CN104914157B 公开(公告)日: 2017-11-07
发明(设计)人: 张思全 申请(专利权)人: 上海海事大学
主分类号: G01N27/90 分类号: G01N27/90
代理公司: 上海信好专利代理事务所(普通合伙)31249 代理人: 尹兵,徐雯琼
地址: 201306 上海市*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 用于 金属结构 微小 空间 缺陷 无损 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种用于金属结构微小空间内的缺陷无损检测装置,其特征在于,对金属工件(101)表面的微小空间(103)内的缺陷(104)进行检测,获得该缺陷(104)的位置和形状信息;包含:

电磁探头(105),其伸入微小空间(103)内部;

主激励线圈(102),其平行设置在金属工件(101)的表面上方,且位于微小空间(103)的出口周围区域;

激励信号单元(110),其与所述的主激励线圈(102)相连接,用于产生激励信号并加载至主激励线圈(102),该主激励线圈(102)通电后,在其周围产生激励磁场,该激励磁场在微小空间(103)的内表面感应出涡电流,该涡电流遇到微小空间(103)内表面上的缺陷(104)后,流动方向发生变化,在微小空间(103)内的缺陷(104)周围产生与激励磁场方向相垂直的缺陷感应磁场,或通过感应微小空间(103)内的缺陷(104)产生线圈阻抗信号,并被电磁探头(105)感应并检测到;

控制单元(111),其分别与所述的激励信号单元(110)以及电磁探头(105)相连接,用于控制激励信号单元(110)产生激励信号,并接收处理由电磁探头(105)感应检测到的缺陷感应磁场,或通过感应缺陷(104)产生的线圈阻抗信号,形成微小空间(103)内的缺陷(104)的图像,以及缺陷(104)的位置形状报告。

2.如权利要求1所述的用于金属结构微小空间内的缺陷无损检测装置,其特征在于,所述的缺陷无损检测装置(100)还包含:

直流电源(112),其与所述的控制单元(111)以及电磁探头(105)相连接,提供工作电源;

存储单元,其与所述的控制单元(111)相连接,用于存储由电磁探头(105)感应检测到的缺陷感应磁场,或通过感应缺陷(104)产生的线圈阻抗信号,以及由控制单元(111)形成的缺陷(104)的图像和位置形状报告;

显示单元,其与所述的控制单元(111)相连接,用于显示由电磁探头(105)感应检测到的缺陷感应磁场,或通过感应缺陷(104)产生的线圈阻抗信号,以及由控制单元(111)形成的缺陷(104)的图像和位置形状报告。

3.如权利要求2所述的用于金属结构微小空间内的缺陷无损检测装置,其特征在于,所述的主激励线圈(102)为空心圆柱形线圈,其截面呈矩形;或者所述的主激励线圈(102)为空心长方体形线圈,其截面呈矩形。

4.如权利要求3所述的用于金属结构微小空间内的缺陷无损检测装置,其特征在于,所述的电磁探头(105)为多段可弯曲的分支结构,其适用的微小空间是直径小于5mm的圆形孔洞,或是直径小于5mm且内部存在弯曲结构的圆形孔洞;该电磁探头(105)包含:

多个依次连接的电磁探头分支(206),每个电磁探头分支(206)分别与所述的直流电源(112)相连接;

多个连接关节(203),相邻两个电磁探头分支(206)之间通过该连接关节(203)相连接;

视觉辅助系统,其设置在电磁探头(105)最前端的电磁探头分支(206)的头部(202)处。

5.如权利要求4所述的用于金属结构微小空间内的缺陷无损检测装置,其特征在于,所述的电磁探头分支(206)包含:

至少一个磁传感器(205),其设置在电磁探头分支(206)的前端,与所述的控制单元(111)相连接,将感应检测到的缺陷感应磁场信号发送至控制单元(111);

第一辅助激励线圈(204),其设置在电磁探头分支(206)的中部,与所述的激励信号单元(110)相连接,以加强激励磁场的信号。

6.如权利要求5所述的用于金属结构微小空间内的缺陷无损检测装置,其特征在于,所述的视觉辅助系统包含照明灯以及微型摄像头,该微型摄像头与所述的控制单元(111)相连接,将拍摄到的圆形孔洞的内部结构发送至控制单元(111)。

7.如权利要求6所述的用于金属结构微小空间内的缺陷无损检测装置,其特征在于,所述的连接关节(203)具有微机电控制组件,其与所述的控制单元(111)相连接,根据微型摄像头拍摄到的圆形孔洞的内部结构控制对应的连接关节(203)弯曲旋转。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海海事大学,未经上海海事大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510231277.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top