[发明专利]航空电子设备抗NSEE能力的检测方法在审
| 申请号： | 201510239664.8 | 申请日： | 2015-05-12 |
| 公开（公告）号： | CN105717385A | 公开（公告）日： | 2016-06-29 |
| 发明（设计）人： | 王群勇;陈冬梅 | 申请（专利权）人： | 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 李相雨;于东 |
| 地址： | 100089 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 航空 电子设备 nsee 能力 检测 方法 | ||
1.一种航空电子设备抗NSEE能力的检测方法，其特征在于，包 括：
获取航空电子设备中发生各种NSEE故障的敏感截面；
根据航空电子设备中发生各种NSEE故障的敏感截面和任务环境 下的大气中子注量率计算航空电子设备的各种NSEE故障率；
对各种NSEE故障率求和得到航空电子设备总NSEE故障率，按所述 航空电子设备总NSEE故障率得到NSEE故障平均间隔时间MTBFNSEE，通过 航空电子设备总NSEE故障率或NSEE故障平均间隔时间MTBFNSEE判断航 空电子设备抗NSEE的能力。
2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，航空电子设备 的各种NSEE故障率是按下式计算的：
λNSEE-i＝fNSEE×σNSEE-i
其中，σNSEE-i为航空电子设备中发生各种NSEE故障的敏感截面， fNSEE为任务环境下的大气中子注量率，λNSEE-i为航空电子设备的各种 NSEE故障率。
3.根据权利要求1或2所述的检测方法，其特征在于：所述航 空电子设备中发生各种NSEE故障的敏感截面是通过对航空电子设备 进行航空电子设备NSEE地面模拟试验得到的。
4.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于：所述对航空 电子设备进行航空电子设备NSEE地面模拟试验得到所述敏感截面， 包括：
确定航空电子设备NSEE地面模拟试验的应力初始条件、应力终 止条件和试验时间；
根据所述应力初始条件、所述应力终止条件和所述试验时间启动 航空电子设备NSEE地面模拟试验，记录试验过程中航空电子设备发 生各种NSEE故障的数量和诱发航空电子设备各种NSEE故障的累积中 子注量；
根据航空电子设备发生各种NSEE故障的数量、诱发航空电子设 备各种NSEE故障的累积中子注量、诱发航空电子设备各种NSEE故障 的试验件样品数量、差异修正系数，计算航空电子设备发生各种NSEE 故障的敏感截面。
5.根据权利要求4所述的检测方法，其特征在于：所述敏感截 面σNSEE-i是按下式计算的：
其中，NNSEE-i为航空电子设备发生各种NSEE故障的数量，FNSEE-i为 诱发航空电子设备各种NSEE故障的累积中子量，NsNSEE-i为诱发航空 电子设备各种NSEE故障的试验件数量，ANSEE-i为差异修正参数。
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