[发明专利]一种复合消色差棱镜相位检测及装调方法有效

专利信息
申请号: 201510240484.1 申请日: 2015-05-13
公开(公告)号: CN104965523B 公开(公告)日: 2017-07-11
发明(设计)人: 彭起;王中科;姜洋;陈科;任戈;刘顺发 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G05D3/12 分类号: G05D3/12;G01M11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 复合 色差 棱镜 相位 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种复合消色差棱镜相位检测及装调方法,其特征在于:包括光源、消色差棱镜组、光轴检测装置、转台和平台;光轴检测装置包括光轴检测Ⅰ、光轴检测Ⅱ和光轴检测Ⅲ,消色差棱镜组包括棱镜Ⅰ和棱镜Ⅱ;光源是光轴检测Ⅰ、光轴检测Ⅱ和光轴检测Ⅲ的参考目标,光轴检测Ⅰ、光轴检测Ⅱ和光轴检测Ⅲ用于测量被棱镜组偏折后光源的位置;其工作流程包括以下步骤:

步骤1)、根据棱镜组中棱镜Ⅰ和棱镜Ⅱ的折射率n和顶角α计算棱镜Ⅰ和棱镜Ⅱ的偏折角度;

步骤2)、光轴检测装置安装在平台上,光源安装在转台上,且不安装棱镜组;光轴检测Ⅰ与光源同轴,光轴检测Ⅱ与光轴检测Ⅰ的夹角θ1为棱镜组的偏折角,光轴检测Ⅲ与光轴检测Ⅰ的夹角θ2为棱镜Ⅰ的偏折角;

步骤3)、利用电子水平仪调整转台至水平;

步骤4)、旋转转台,在光轴检测Ⅰ、光轴检测Ⅱ和光轴检测Ⅲ的视场内分别检测其靶面坐标是否与光源由于转台旋转所产生的轨迹平行,如果不平行,分别调整光轴检测Ⅰ、光轴检测Ⅱ和光轴检测Ⅲ,使其与光源轨迹平行度误差小于1″;

步骤5)、在平行度调整完成后,分别记录光轴检测Ⅰ、光轴检测Ⅱ和光轴检测Ⅲ中标记点的纵坐标y,y和y;即光源旋转轨迹;

步骤6)、旋转转台,将光源对准光轴检测Ⅰ的中心,此时光源在光轴检测Ⅰ中的纵坐标应为y,锁定转台,安装棱镜Ⅰ,棱镜Ⅰ的顶角面应与水平面基本平行,此时光源的像应在光轴检测Ⅲ中,读取光轴检测Ⅲ中光源像的纵坐标,旋转棱镜Ⅰ使得此时光源像的纵坐标与之前光轴检测Ⅲ中标记点的纵坐标y重合;

步骤7)、安装棱镜Ⅱ,棱镜Ⅱ的顶角面应与水平面平行,顶角方向与棱镜Ⅰ相反,此时光源的成像应在光轴检测Ⅱ中,读取光轴检测Ⅱ中光源像的纵坐标,旋转棱镜Ⅱ使得此时光源像的纵坐标与之前光轴检测Ⅱ中标记点的纵坐标y重合;

步骤8)、锁定棱镜Ⅰ和棱镜Ⅱ,完成棱镜组的检测和装配。

2.根据权利要求1所述的一种复合消色差棱镜相位检测及装调方法,利用安装在高精度转台上的光源标定和调整光轴检测装置,将其拼接成拥有大视场和高分辨率的检测组件,从而实现棱镜组的检测和装配。

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