[发明专利]用于电压感测装置的校准方法有效
申请号: | 201510240767.6 | 申请日: | 2015-05-13 |
公开(公告)号: | CN105093149B | 公开(公告)日: | 2020-02-28 |
发明(设计)人: | A.R.科尔瓦卡;S.D.瓦塔克;A.K.拉胡纳桑;A.A.库尔卡尼;C.B.奥萨利文 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 叶晓勇;姜甜 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 电压 装置 校准 方法 | ||
1.一种校准方法,用于在多个导体存在的情况下增强一个或多个电压感测装置的测量精度,所述方法包括:
在操作上将所述一个或多个电压感测装置的至少一个电压感测装置耦合到所述多个导体的相应导体,
使用所述至少一个电压感测装置来确定所述相应导体的所感测电压值,
确定包含表示所述至少一个电压感测装置的天线与所述多个导体中的其他导体之间的交叉耦合的交叉耦合因子的校准矩阵,其中所述至少一个电压感测装置包括:
具有第一阻抗的第一阻抗元件,其中所述第一阻抗元件配置成操作上耦合到所述相应导体和所述天线;
具有第二阻抗的第二阻抗元件,其中所述第二阻抗元件部分由所述天线和寄生阻抗元件来形成,并且所述寄生阻抗元件具有寄生阻抗,并且所述第二阻抗比所述第一阻抗的值大;以及
使用所述校准矩阵通过从所述相应导体的所述所感测电压值中至少部分扣除所述交叉耦合的份额,来确定所述相应导体的校正电压值。
2.如权利要求1所述的校准方法,其中,所述多个导体设置在所确定几何结构中。
3.如权利要求1所述的校准方法,其中,所述电压感测装置是非接触式电压感测装置,并且所述非接触式电压感测装置进一步包括:测量和通信电路,耦合到所述第一阻抗元件,并且配置成确定所述相应导体的所述所感测电压值。
4.如权利要求3所述的校准方法,其中,所述非接触式电压感测装置还包括配置成在所述第一阻抗元件的一侧或多侧提供屏蔽的导电元件。
5.如权利要求3所述的校准方法,其中,所述多个导体中的所述其他导体在操作上耦合到相应非接触式电压感测装置。
6.如权利要求5所述的校准方法,其中,一个或多个相应非接触式电压感测装置包括导电屏蔽。
7.一种用于确定多相电力线的一个或多个电力线的单独电压值的方法,包括:
在操作上将相应非接触式电压感测装置耦合到所述多相电力线的一个或多个电力线,其中所述相应非接触式电压感测装置的每个包括:
具有第一阻抗的第一阻抗元件,其中所述第一阻抗元件配置成操作上耦合到所述一个或多个电力线的相应电力线;
天线,在操作上耦合到所述第一阻抗元件;
具有第二阻抗的第二阻抗元件,其中所述第二阻抗元件部分由所述天线和寄生阻抗元件来形成,并且所述寄生阻抗元件具有寄生阻抗,并且所述第二阻抗比所述第一阻抗的值大;
测量和通信电路,在操作上耦合到所述第一阻抗元件;
使用所述相应非接触式电压感测装置来确定所述多相电力线的所述一个或多个电力线的所感测电压值;
确定包含交叉耦合因子的校准矩阵,其中所述交叉耦合因子表示所述相应非接触式电压感测装置与所述多相电力线的其他电力线之间的交叉耦合;以及
使用所述校准矩阵通过从所述所感测电压值中至少部分扣除所述交叉耦合的份额,来确定所述相应电力线的单独电压值。
8.如权利要求7所述的方法,其中,所述单独电压值与三相电力线中的三个电力线的所感测电压值之间的关系表示为:
其中,VL1、VL2和VL3是所述三个电力线的单独电压值,VZ1、VZ2和VZ3是所述三个电力线的所感测电压值,以及[L]是矩阵。
9.如权利要求8所述的方法,其中,所述校准矩阵表示为:
其中,[M]是所述校准矩阵。
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