[发明专利]多级分选砂加工生产线有效
申请号: | 201510241478.8 | 申请日: | 2015-05-13 |
公开(公告)号: | CN105032597B | 公开(公告)日: | 2017-11-24 |
发明(设计)人: | 葛文耀;唐细国;邓铁;陈发宏;宋晓年;翁辉;温永远 | 申请(专利权)人: | 河源旗滨硅业有限公司 |
主分类号: | B03B7/00 | 分类号: | B03B7/00;B07B1/22;B07B1/46 |
代理公司: | 杭州杭诚专利事务所有限公司33109 | 代理人: | 王江成,郑汉康 |
地址: | 517500*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 多级 分选 加工 生产线 | ||
技术领域
本发明涉及一种砂加工生产线,尤其是一种能减少硅砂过磨现象多级分选砂加工生产线。
背景技术
众所周知,硅砂是玻璃工业的主要原料,它约占玻璃原料用量的70%。世界上主要玻璃生产国,如美国、日本、苏联、西德、比利时等国的硅质原料大部分是用天然硅砂,而我国因天然优质硅砂矿主要资源分布只有广东河源与安徽凤阳,而原矿风化不同,粒度分布差异大。玻璃原料主要是用石英砂岩和石英岩经过粉碎加工的人造硅砂。
各企业生产玻璃石英砂的粒度控制不完全相同,我国熔制玻璃的硅砂粒度控制在0.1~0.75mm其中0.25~0.5mm的粒度不应少于90%,小于0.1mm的不超过5% ;硅砂粒度过粗,熔融困难;粒度过细,又容易结成团块,使配料不容易拌匀.而影响玻璃质量。
由于原矿的加工精砂成品率与原矿特性、粒度分布、加工工艺流程等关联程度较大,常规砂加工路线中影响硅砂粒成品率的主要在于破碎系统,现在常规的破碎系统一般设计均经过破碎、再磨粉后进入选矿流程。在此过程原矿中的合格粒度经过破碎与磨粉过程容易造成过磨现象,根据原矿风化程度不一样,易产生小于0.1mm超细粉,而且占比会达到10-20%,该超细粉通过选矿后被淘汰掉,对砂加工生产的成品率、单位制造成本影响极大。
发明内容
为了解决现有技术中原矿中的合格粒度经过二次破碎与磨粉过程容易造成过磨,使得超细粉含量超标,影响硅砂粒成品率及单位制造成本的缺陷,提供一种多级分选砂加工生产线,增加二级筛选,在二级筛选中分离大颗粒、中颗粒及小颗粒,防止出现过磨现象,保证超细粉含量达标。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:一种多级分选砂加工生产线,包括一级预选系统、破碎机、料仓、磨机及磨后池,破碎机与小块料仓之间设置二级筛选系统,二级筛选系统包括滚筒筛和水冲洗筛,滚筒筛与破碎机之间连接有大颗粒回送带,水冲洗筛与料仓之间连接有中颗粒前输送带,二级筛选系统下部设置有小颗粒收集池,收集池通过渣浆泵与管道连接磨后池。经过二级筛选系统,将破碎机破碎的硅砂按照需要的规格分出大颗粒、中颗粒和小颗粒,大颗粒通过大颗粒回送带送至破碎机再次破碎,中颗粒送至料仓并进入磨机,小颗粒则直接送至磨机后的魔后池,大颗粒及小颗粒均不进入磨机,减少过磨的现象,提高工作效率,降低物料损耗;大颗粒不进入磨机,防止出现下料不畅,磨机卡死的现象,同时也减少磨损,使用周期长,不用频换更换磨头,劳动强度降低,工作效率提高;二级筛选系统采用水冲洗筛筛选中颗粒及小颗粒,降低小颗粒、尤其是超细粉扬尘,同时能确保小颗粒与中颗粒高比例分离。
作为优选,破碎机分为两级,分别为一级颚破机及二级圆锥破机。
作为优选,大颗粒回送带连接滚筒筛及二级圆锥破机。
作为优选,滚筒筛呈圆筒状,滚筒筛表面布置有若干筛网孔,筛网孔的规格按照大颗粒的最低规格定,滚筒筛的前端为进料口,滚筒筛的后端为大颗粒出料口;滚筒筛的两端之间的下方设置水冲洗筛。
作为优选,滚筒筛倾斜布置,进料口高于出料口,水冲洗筛呈与滚筒筛相同倾斜的布置方式;水冲洗筛的上方连接有进水管,进水管具有多个出水口,出水口沿着水冲洗筛长度方向布置,出水口呈扁平的鸭嘴状。多个出水口能覆盖水冲洗筛的整个表面,不会出现遗漏,从而保证中颗粒与小颗粒分离彻底,也确保中颗粒表面不会附着超细粉。
作为优选,滚筒筛后端连接有大颗粒储料斗,水冲洗筛后端设置有中颗粒储料斗,大颗粒储料斗与大颗粒回送带对接,中颗粒储料斗与中颗粒前输送带对接。
作为优选,大颗粒储料斗与中颗粒储料斗之间设置有挡板,滚筒筛的后端伸出水冲洗筛的后端外,挡板分隔滚筒筛的后端及水冲洗筛的后端。
作为优选,水冲洗筛下方设置有倒锥形漏斗,倒锥形漏斗下方为小颗粒收集池。
作为优选,滚筒筛筛选大颗粒规格为50mm以上,水冲洗筛筛选中颗粒规格为3-50mm,小颗粒规格为3mm以下。
作为优选,料仓与磨机之间设置有送料带,磨机包括棒磨机或球磨机。
本发明的有益效果是:经过二级筛选系统,将破碎机破碎的硅砂按照需要的规格分出大颗粒、中颗粒和小颗粒,大颗粒通过大颗粒回送带送至破碎机再次破碎,中颗粒送至料仓并进入磨机,小颗粒则直接送至磨机后的魔后池,大颗粒及小颗粒均不进入磨机,减少过磨的现象,提高工作效率,降低物料损耗。
附图说明
图1是本发明一种结构示意图;
图2是本发明一种二级筛选系统结构示意图;
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