[发明专利]不同产线液晶模组的缺陷等级判定方法有效
申请号: | 201510241961.6 | 申请日: | 2015-05-12 |
公开(公告)号: | CN104793372B | 公开(公告)日: | 2018-01-19 |
发明(设计)人: | 彭骞;李昂;刘荣华;雷新军;严运思;帅敏;陈凯;沈亚非 | 申请(专利权)人: | 武汉精测电子技术股份有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 武汉开元知识产权代理有限公司42104 | 代理人: | 黄行军,李满 |
地址: | 430070 湖北省武汉*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 不同 液晶 模组 缺陷 等级 判定 方法 | ||
1.一种不同产线液晶模组的缺陷等级判定方法,其特征在于,它包括如下步骤:
步骤1:在上位机上层应用软件的系统配置初始化文件中根据当前液晶模组的尺寸及信号类型,配置当前液晶模组所需的缺陷等级,然后在上位机上层应用软件的缺陷等级文件夹下,通过外部文本编辑工具编辑与上述当前液晶模组产线所需缺陷等级对应的缺陷等级初始化文件,再将当前液晶模组产线所需缺陷等级与对应的缺陷等级初始化文件通过文件名匹配的形式进行匹配;
步骤2:在上位机外部文本编辑工具中对生成的上述缺陷等级初始化文件进行编辑,上述缺陷等级初始化文件编辑过程采用如下的分级阵列编辑模式;
由于缺陷等级由缺陷类型、缺陷名称和缺陷描述这三级组成,所以缺陷等级初始化文件分为对应的三级界面进行编辑,其中的第一级界面为缺陷类型编辑界面,第二级界面为缺陷名称编辑界面,第三级界面为缺陷描述编辑界面;
步骤3:在上位机外部文本编辑工具中将上述缺陷类型编辑界面中的长度键值内的行数和列数根据现有的《液晶模组缺陷等级判定标准》进行设置,长度键值内的行数和列数表示缺陷类型的矩阵,同时,根据现有的《液晶模组缺陷等级判定标准》对缺陷类型编辑界面中的矩阵键值及该矩阵键值对应的缺陷类型进行设置;
步骤4:在上述缺陷名称编辑界面中,根据现有的《液晶模组缺陷等级判定标准》设置上述缺陷类型编辑界面内的每个缺陷类型所对应的缺陷名称,同时,在缺陷名称编辑界面的长度键值内设置上述每个缺陷类型所对应缺陷名称的矩阵行数和列数;
步骤5:在上述缺陷描述编辑界面中,根据现有的《液晶模组缺陷等级判定标准》设置上述缺陷名称编辑界面内每个缺陷名称对应的缺陷描述;
步骤6:在上位机上层应用软件的缺陷等级判定界面中,上位机程序根据当前液晶模组的配置初始化文件中设置的缺陷等级,显示出当前液晶模组所需的缺陷等级,上位机解析步骤2~5编辑的缺陷等级初始化文件中的编辑内容,并找出当前液晶模组所需缺陷等级所对应的缺陷等级初始化文件编辑内容,供用户选择;
步骤7:上位机记录步骤6中用户选择的缺陷等级初始化文件编辑内容,并将步骤6中用户选择的缺陷等级初始化文件编辑内容上传给液晶模组制造执行系统服务器;
步骤6和步骤7的操作在上位机上层应用软件和图形发生器以及液晶模组制造执行系统服务器内共同完成。
2.根据权利要求1所述的不同产线液晶模组的缺陷等级判定方法,其特征在于:所述步骤7中,将用户选择的缺陷等级初始化文件编辑内容通过数据包协议传给液晶模组制造执行系统服务器。
3.根据权利要求1所述的不同产线液晶模组的缺陷等级判定方法,其特征在于:所述步骤3中长度键值内的行数和列数设置为Length=5,1,表示一级界面有5行1列个缺陷类型,缺陷类型编辑界面中的矩阵键值及该矩阵键值对应的缺陷类型设置为Matrix h(1,1)=Mura”表示第1行第1列的缺陷类型为彩晕。
4.根据权利要求1所述的不同产线液晶模组的缺陷等级判定方法,其特征在于:所述步骤4中,在缺陷类型为彩晕处设置Mura这个缺陷类型对应的缺陷名称,在缺陷类型彩晕后面的长度键值内设置缺陷名称Mura在缺陷类型矩阵中对应的行数和列数。
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