[发明专利]用于检测显示面板的方法

权利要求书

1.一种用于检测显示面板的方法，所述显示面板包括用于驱动电致发光器件的阵列基板，所述阵列基板包括阵列布置的像素电极以及驱动所述像素电极的像素开关阵列，其特征在于，所述方法包括如下步骤：

S1、向制作完成的阵列基板施加第一驱动信号，监控所述像素电极上的第一电压；

S2、在所述阵列基板的各个像素电极上形成第二电极；

S3、向被形成有所述第二电极的阵列基板施加第二驱动信号，监控流过所述第二电极的第二电流；

其中所述像素电极是所述电致发光器件的阴极和阳极中的一个，所述第二电极是所述电致发光器件的阴极和阳极中的另一个。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述阵列基板的制作包括对所述阵列基板进行测试以确定阵列基板中的缺陷，所述方法还包括：

利用所述第一电压和所述第二电流来检验所述测试的测试结果。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：绘制第一电压等值线，所述第一电压等值线指示所述阵列基板中具有相等的第一电压的像素电极；并且

绘制第二电流等值线，所述第二电流等值线指示所述阵列基板中具有相等的第二电流的第二电极。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述利用所述第一电压和所述第二电流来检验所述测试的测试结果的步骤包括：

将所述第一电压等值线和第二电流等值线进行比较。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：借助所述第一电压得到所述像素开关的第一阈值电压，以及借助所述第二电流得到所述像素开关的第二阈值电压。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：将所述第一阈值电压和第二阈值电压进行比较。

7.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在形成所述第二电极之后，对所述阵列基板进行封装。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述对所述阵列基板进行测试以确定阵列基板中的缺陷的步骤包括：使用短路环将所述像素开关阵列的扫描线引出至所述阵列基板的外围。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，在开始所述步骤S3之前将所述短路环切除。

10.根据权利要求1-9中的任一项所述的方法，其特征在于，所述电致发光器件是有机发光二极管，所述阵列基板是AMOLED阵列基板。