[发明专利]基于饱和导通压降测量IGBT结温的温度定标平台及实现IGBT结温测量的方法在审
申请号: | 201510245724.7 | 申请日: | 2015-05-14 |
公开(公告)号: | CN104848961A | 公开(公告)日: | 2015-08-19 |
发明(设计)人: | 张刚;康代涛;刘璇;齐乐;王立欣 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | G01K11/00 | 分类号: | G01K11/00 |
代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人: | 岳泉清 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 饱和 导通压降 测量 igbt 温度 定标 平台 实现 方法 | ||
1.基于饱和导通压降测量IGBT结温的温度定标平台,其特征在于,它包括恒温箱(3)、IGBT温度定标电路、IGBT驱动设备、PXI测试机箱上的数字万用表模块(4)、大电流稳压电源(2)和大功率电阻(1),
IGBT温度定标电路包括IGBT、一号二极管D1、二号二极管D3、电阻R1和电感L1,
IGBT的栅极连接电阻R1的一端,电阻R1的另一端作为IGBT驱动设备的驱动脉冲信号输出端,
IGBT的漏极同时连接二号二极管D3的阴极、电感L1的一端和一号二极管D1的阳极,二号二极管D3的阳极同时连接IGBT的源极和电源地,IGBT的漏极和IGBT的源极作为PXI测试机箱上的数字万用表模块(4)的两个测量端,
电感L1的另一端连接大功率电阻(1)的一端,
一号二极管D1的阴极同时连接大功率电阻(1)的另一端和大电流稳压电源(2)的正极,大电流稳压电源(2)的负极连接电源地,
IGBT温度定标电路、IGBT驱动设备、PXI测试机箱上的数字万用表模块(4)、大电流稳压电源(2)和大功率电阻(1)均位于恒温箱(3)中,
恒温箱(3)用于实现对IGBT温度定标电路的温度控制。
2.根据权利要求1所述的基于饱和导通压降测量IGBT结温的温度定标平台,其特征在于,
大电流稳压电源(2)的电流值为大于等于10A。
3.根据权利要求1所述的基于饱和导通压降测量IGBT结温的温度定标平台,其特征在于,大功率电阻(1)的功率范围为大于等于500W。
4.根据权利要求1所述的基于饱和导通压降测量IGBT结温的温度定标平台,其特征在于,IGBT驱动设备的驱动脉冲信号采用窄脉冲。
5.根据权利要求1所述的基于饱和导通压降测量IGBT结温的温度定标平台,其特征在于,IGBT驱动设备采用信号发生器或者PXI测试机箱实现。
6.根据权利要求1、2、3、4或5所述的基于饱和导通压降测量IGBT结温的温度定标平台实现的测量IGBT结温的方法,其特征在于,它包括以下步骤:
步骤一、将基于饱和导通压降测量IGBT结温的温度定标平台放入恒温箱(3)内,通过恒温箱(3)设定内部起始温度为A℃,随后以B℃为间隔,逐渐增加到X℃;A为工作环境初始温度;B为测量温度间隔,X为IGBT的结温上限;
步骤二、在每个测量温度A+nB℃下停留10分钟至30分钟,根据恒温箱(3)上的温度显示面板确认恒温箱(3)内部温度已经达到稳定,n为大于等于0的整数;
步骤三、温度稳定后接通大电流稳压电源(2),同时将设定的IGBT驱动设备的驱动脉冲信号输出给IGBT的栅极,用PXI测试机箱上的数字万用表模块(4)采集IGBT的漏极和源极两端的信号,通过Labview记录下瞬态饱和导通电压VCE的值,
步骤四、断开大电流稳压电源(2)和IGBT驱动设备的驱动脉冲信号,调节大功率电阻(1)的阻值来改变电流IC值,在每个温度下的电流IC的值由电压源除以功率电阻得到;
步骤五、重复步骤一至步骤四获得每个温度下的电流IC值和该电流IC值所对应的瞬态饱和导通电压VCE的值,将获得每个温度下的电流IC值和该电流IC值所对应的瞬态饱和导通电压VCE的值输入matlab程序中进行线性拟合,获得结温Tj、饱和导通压降VCE和集电极电流IC的线性关系平面;
步骤六、在大电流稳压电源(2)接通下,给IGBT的栅极输入驱动脉冲信号,采用PXI测试机箱上的数字万用表模块(4)对IGBT的集电极和发射极两端的信号进行采集,通过Labview记录下瞬态饱和导通电压VCE的值,并通过步骤四获得该VCE的值对应电流IC的值,然后带入步骤五中的结温Tj、饱和导通压降VCE和集电极电流IC的线性关系平面,获得结温Tj。
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