[发明专利]复杂曲面薄壁板材细微拼缝激光测量焊接跟踪方法及系统有效

专利信息
申请号: 201510250369.2 申请日: 2015-05-15
公开(公告)号: CN104816072B 公开(公告)日: 2017-04-19
发明(设计)人: 甄恒洲;孙忠卿 申请(专利权)人: 大连大学
主分类号: B23K9/127 分类号: B23K9/127
代理公司: 大连东方专利代理有限责任公司21212 代理人: 李馨,李洪福
地址: 116622 辽宁*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 复杂 曲面 薄壁 板材 细微 激光 测量 焊接 跟踪 方法 系统
【说明书】:

技术领域

本发明涉及一种激光测量焊接跟踪方法,尤其涉及一种复杂曲面薄壁板材细微拼缝激光焊接跟踪方法。涉及专利分类号B23机床;其他类目中不包括的金属加工B23K钎焊或脱焊;焊接;用钎焊或焊接方法包覆或镀敷;局部加热切割,如火焰切割;用激光束加工B23K9/00电弧焊接或电弧切割B23K9/095监测或自动控制焊接参数。

背景技术

目前针对复杂曲面薄壁板材细微拼缝焊接及跟踪的视觉传感器的研究或商品化产品都存在各种不足,主要原因是测量及跟踪精度不足。如果两拼板因上道工序的加工精度不足。导致搭拼有错缝,则焊缝的法矢量面难以测量,如果拼缝小于0.05mm,并经过拼缝打磨后,则通常的激光三角测量方法或双目立体视觉测量原理的视觉传感器都不能准确、稳定获取拼缝的完整信息。当板的厚度很薄时,如果焊接速度过低,焊枪在一点处停留时间过长,会使薄板温度升高,从而产生变形。

经过对现有的技术文献的查阅,王克鸿等人在《焊接学报》(2006年第八期,Vol.27,No8)上发表了“基于激光双目视觉的接缝三维重建”。文中以坡类型的拼缝进行了拼缝信息的测量实验,但没有解决线型拼缝,尤其是拼缝间隙小于0.05mm,以及拼缝打磨后测量问题。

发明内容

本发明针对以上问题的提出,而研制的复杂曲面薄壁板材细微拼缝激光测量焊接跟踪方法,具有如下步骤:

首先,考虑到首次采集图像时,需要满足抗干扰性能及采集速度,故采用长波段激光照射待测量拼缝区域,同时采用摄像头I采集拼缝区域的图像I;相对于现有直接获取图像或者采用一般波段激光照射后获取图像,可以有效的减少环境条件比如背景光的干扰,测量结果更加准确,扫描速度更快。

然后,考虑到由于金属表面的凸凹不平及有杂质等原因,会使反射光发散,CCD采集到的图像效果不好。使用液态反光剂涂抹所述的拼缝区域。本发明所采用的反光液具有一定的粘度,可有效的附着在焊缝区域,同时要求反光性能优异,便于光学设备识别,而且在图像采集后,要求能够迅速挥发,以保证对后续的焊接作业不造成影响。另外,对于焊缝而言,拼缝的中心是主要关心的,而反光液本身就具备一定的流动性,它会以中心线缝为中心流动,这样更容易准确确定中心线缝。

考虑到,短波激光更便于清晰的测量表面焊缝表面细微特征,使用短波段激光照射涂有反光剂的拼缝区域,同时采用摄像头II采集拼缝区域的图像II。由于图像II需要获取拼缝图像的精确图像信息,故采用精度高的短波段激光进行照射。

然后,多维融合所述的图像I和图像II,得出至少包含真实宽度、中心线矢量、拼缝曲面法矢量的图像信息,构建所述拼缝的三维形貌廓形。所述的多维融合根据二维信息的特征值来判断三维信息的特征。比如,对于同一条焊缝,在CCD的测量范围内,当CCD距被测物体不同高度时,反应在镜头内的宽度是不一样的,而该宽度值和测量距离存在一定的数学关系,可以通过实验的方法,针对不同的CCD,标定出相应的数学关系式,这样就把二维测量的信息和三维信息有机的结合起来了。

最后,控制焊枪姿态、方位和焊接速度、沿焊缝的三维形貌廓形运动,完成焊接测量跟踪。

更进一步的,采集到图像II后,还具有对图像II的线结构光亚像素提取步骤:

—通过对比图像中的像素的灰度值,获得代表焊缝的光带的粗略中心;

—根据光带的宽度,对光带宽度范围内的像素灰度值进行平滑滤波和幂次变换,修正灰度的不均匀高斯分布和高频噪声对光带中心位置确定的影响;

—根据修正后的光带灰度,通过自适应阈值法确定光带边界处的阈值,得到光带的边界位置;

—对光带边界以内的像素进行灰度值的微分计算,得到该行上光带中心位置的亚像素值;

—重复上一步骤,得出每行像素上的光带中心亚像素,得到图像的光带中心。

更进一步的,所述步骤“通过对比图像中的像素的灰度值,获得代表焊缝的光带的粗略中心”具体包括如下步骤:

—针对像素大小为M行×N列的图像II,设定行索引i=0、1、2……N-1;列索引j=0、1、2……M-1,第i行j列的像素灰度值为G(i,j),设定,

Hi,j=∣G(i,j)-G(i+1,j)∣

—逐行计算图像II中各列的Hi,j值,比对相邻Hi,j值;

—当(Hi,j-Hi-1,j)/E≥I(1)

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