[发明专利]轨道平顺状态的检测方法及装置有效

专利信息
申请号: 201510250489.2 申请日: 2015-05-15
公开(公告)号: CN105083320B 公开(公告)日: 2018-07-27
发明(设计)人: 王平;王源;肖杰灵;徐金辉;陈嵘;韦凯;赵才友;王彪;王健 申请(专利权)人: 西南交通大学
主分类号: B61K9/08 分类号: B61K9/08;G01B21/00
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 王术兰
地址: 610031*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 轨道 平顺 状态 检测 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种轨道平顺状态的检测方法,其特征在于,包括:

采用预设弦测法对轨道不平顺进行测量,得到预设测量位置对应的弦测值;所述弦测值为所述预设测量位置到钢轨的垂直距离;

根据弦测值与所述轨道不平顺的关联关系,建立所述弦测值与所述轨道不平顺的数学模型;

根据所述数学模型对所述弦测值进行反算计算,得到轨道不平顺;

所述采用预设弦测法对轨道不平顺进行测量,得到预设测量位置对应的弦测值,包括:

采用一弦多点弦测法对所述轨道不平顺进行测量,得到预设测量位置对应的弦测值;

其中,所述一弦多点弦测法即将测量弦线划分多个测量点,然后在每一个测量点测量弦测值;

所述一弦多点弦测法的所述数学模型为多个矩阵方程,通过最小二乘原理对多个所述矩阵方程进行计算,得到轨道几何形位。

2.根据权利要求1所述的轨道平顺状态的检测方法,其特征在于,所述采用一弦多点弦测法对所述轨道不平顺进行测量,得到预设测量位置对应的弦测值,包括:

按照预设间隔对测量弦线等距离划分,得到多个测量弦线点;

分别计算所述轨道不平顺在每一个所述测量弦线点处的弦测值。

3.根据权利要求2所述的轨道平顺状态的检测方法,其特征在于,所述按照预设间隔对测量弦线等距离划分,得到多个测量弦线点之后,还包括:

按照预设采样间隔和预设测量方向,对划分后的所述测量弦线进行预设次数的移动,记录每一次移动后的所述多个测量弦线点。

4.根据权利要求3所述的轨道平顺状态的检测方法,其特征在于,所述根据弦测值与所述轨道不平顺的关联关系,建立所述弦测值与所述轨道不平顺的数学模型,包括:

将多个所述弦测值设置为对应的多个弦测值向量;

根据所述弦测值与轨道几何行位之间的几何结构,建立所述弦测值向量与所述轨道不平顺之间的数学关系;

根据所述数学关系及预设采样间隔,对所述轨道不平顺进行离散采样,得到对应的多个矩阵方程。

5.根据权利要求1-4任意一项所述的轨道平顺状态的检测方法,其特征在于,所述根据所述数学模型对所述弦测值进行反算计算,得到轨道不平顺包括:

对所述弦测值进行前处理,输出初步去除随机测量误差及修正异常值后的弦测值;

对去噪处理后的所述弦测值进行反算计算,得到轨道几何形位;

对所述轨道几何形位进行滤波处理,输出轨道不平顺。

6.根据权利要求5所述的轨道平顺状态的检测方法,其特征在于,所述根据所述数学模型对所述弦测值进行反算计算,得到轨道几何形位,包括:

将每一个所述测量弦线点处的弦测值向量设置为真实弦测值与测量误差的组合,得到多个弦测值向量对应的多个新的矩阵方程;

将所述多个新的矩阵方程进行组合,得到总体线性方程组;

对所述总体线性方程组进行求解,得到轨道不平顺的反算值;所述轨道不平顺的反算值即所述轨道几何形位。

7.一种轨道平顺状态的检测装置,其特征在于,包括:

测量单元,用于采用预设弦测法对轨道不平顺进行测量,得到预设测量位置对应的弦测值;所述弦测值为所述预设测量位置到钢轨的垂直距离;

建立单元,用于根据所述测量单元测量的所述弦测值与所述轨道不平顺的关联关系,建立所述弦测值与所述轨道不平顺的数学模型;

反算计算单元,用于根据所述建立单元建立的所述数学模型对所述弦测值进行反算计算,得到轨道不平顺;

所述测量单元包括:

测量子单元,用于采用一弦多点弦测法对所述轨道不平顺进行测量,得到测量结果;

设置子单元,用于将所述测量子单元得到的所述测量结果设置为预设测量位置对应的弦测值;

其中,所述一弦多点弦测法即将测量弦线划分多个测量点,然后在每一个测量点测量弦测值;

所述一弦多点弦测法的所述数学模型为多个矩阵方程,通过最小二乘原理对多个所述矩阵方程进行计算,得到轨道几何形位。

8.根据权利要求7所述的轨道平顺状态的检测装置,其特征在于,所述测量子单元包括:

等距离划分模块,用于按照预设间隔对测量弦线等距离划分,得到多个测量弦线点;

计算模块,用于分别计算所述轨道不平顺在每一个所述等距离划分模块划分的所述测量弦线点处的弦测值。

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