[发明专利]一种线扫描式蜂窝陶瓷检测装置及检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及蜂窝陶瓷检测技术领域，尤其涉及一种线扫描式蜂窝陶瓷检测装置及检测方法。

背景技术

目前，对于蜂窝陶瓷通孔率、裂纹、孔壁形状、圆度等特征的传统检测方法是基于面成像原理，对整个载体端面一次成像，进而识别蜂窝陶瓷的各种特征。但是，该方法存在如下不足：一、对光源的均匀性和稳定性要求很高，否则无法消除由光照强度区域和时间的变化带来的影响。二、成像过程由单一镜头完成，对分辨率要求高，一般要千万像素，成本高，而且由镜头引入的边缘变形无法消除，因而限制了被测蜂窝的体积（蜂窝越大，所需焦距越长，分辨率越高），而长焦距加大了仪器体积。三、面成像由电荷耦合元件（Charge-coupled Device，CCD）或互补金属氧化物半导体（Complementary Metal Oxide Semiconductor，CMOS）相机完成，基于统一光圈，进而造成边缘光晕，导致蜂窝边缘部分无法识别。为缓解这个问题必须引入严密的遮光结构，这样将进一步加大仪器复杂程度和体积。四、由于管道视觉的限制，拍照式检测方法不能直接对端面成像，必须使用毛化玻璃等手段形成“幕布”，将孔道投影在幕布上再进行拍照，这样从一开始就降低了分辨率，且必须使用透明托盘等不利于在线操作的结构。由于蜂窝陶瓷存在致密的通孔结构，且孔道长度通常很长，因此采用肉眼观察存在管道视觉，无法简单的察觉缺陷。传统的人工检查存在很大的不确定性，且分辨率很低。同时，虽然针对上述问题有人提出了一些辅助检查方法，但是现已公开的辅助检查方法普遍存在实用性差、结构复杂等问题。

发明内容

本发明的目的在于通过一种线扫描式蜂窝陶瓷检测方法及装置，来解决以上背景技术部分提到的问题。

本发明为实现上述目的，采用如下技术方案：

一种线扫描式蜂窝陶瓷检测装置，包括光源、线扫描成像阵列、驱动装置以及上位机；所述光源和线扫描成像阵列相对设置；待检测蜂窝陶瓷放置在所述光源和线扫描成像阵列之间，其两端面分别面向所述光源和线扫描成像阵列；所述驱动装置驱动所述待检测蜂窝陶瓷与所述线扫描成像阵列相对移动，使所述线扫描成像阵列完成对所述待检测蜂窝陶瓷整个端面的扫描，从而输出所述待检测蜂窝陶瓷整个端面的扫描图像；所述上位机电连接所述线扫描成像阵列，接收所述待检测蜂窝陶瓷整个端面的扫描图像。

其进一步特征在于：所述线扫描成像阵列选用接触式图像传感器(Contact Image Sensor，CIS )。

所述上位机选用计算机。

一种形式：所述待检测蜂窝陶瓷水平放置在驱动装置的传送带上；所述光源设置于待检测蜂窝陶瓷的任一端面处；所述线扫描成像阵列与所述光源的位置相对应，设置于所述待检测蜂窝陶瓷的另一端面处；所述传送带驱动所述待检测蜂窝陶瓷移动，线扫描成像阵列完成对所述待检测蜂窝陶瓷整个端面的扫描，输出所述待检测蜂窝陶瓷整个端面的扫描图像给上位机。

另一种形式：所述待检测蜂窝陶瓷垂直放置在驱动装置的传送带上；所述光源设置于待检测蜂窝陶瓷的任一端面处；所述线扫描成像阵列与所述光源的位置相对应，设置于所述待检测蜂窝陶瓷的另一端面处；所述传送带驱动所述待检测蜂窝陶瓷移动，线扫描成像阵列完成对所述待检测蜂窝陶瓷整个端面的扫描，输出所述待检测蜂窝陶瓷整个端面的扫描图像给上位机。

还有一种形式：所述待检测蜂窝陶瓷水平放置在驱动装置的传送带上，其中，所述传送带为发光面，此时，该传送带即为光源；所述线扫描成像阵列设置于所述待检测蜂窝陶瓷的上方；所述传送带驱动所述待检测蜂窝陶瓷移动，线扫描成像阵列完成对所述待检测蜂窝陶瓷整个端面的扫描，输出所述待检测蜂窝陶瓷整个端面的扫描图像给上位机。

一种采用上述线扫描式蜂窝陶瓷检测装置的蜂窝陶瓷检测方法，其特征在于：将光源设置于待检测蜂窝陶瓷的任一端面处；与所述光源的位置相对应，将线扫描成像阵列设置于所述待检测蜂窝陶瓷的另一端面处；驱动所述待检测蜂窝陶瓷与所述线扫描成像阵列相对移动，使所述线扫描成像阵列完成对所述待检测蜂窝陶瓷整个端面的扫描，从而输出所述待检测蜂窝陶瓷整个端面的扫描图像；根据所述扫描图像，检测所述待检测蜂窝陶瓷的各特征。