[发明专利]一种电路板并行在线测试平台

说明书

技术领域

本发明涉及一种电路板并行在线测试平台。

背景技术

ICT(incircuittester，简称ICT)测试主要是利用测试探针接触主板上的测试点来检测主板的线路开路、短路及元件的焊接情况，ICT测试分为开路测试、短路测试、电阻测试、电容测试、二极管测试、三极管测试、场效应管测试、IC管脚测试等其它通用或特殊元器件的漏装、错装、参数值偏差、焊点连焊、线路板开短路等故障，并将故障是出现在哪个组件或开短路位于哪个测试点告诉用户，对组件的焊接测试有较高的识别能力。

目前ICT的测试是按顺序测试的，即UUT(被测元件)一个测完再接着另一个测试。少数的ICT设备能够同时对2到4个UUT进行测试，其方法是把系统划分为2到4个独立的测试系统从而独立进行测试。由于系统架构及测试方案的原因，多过4个以上UUT的并行测试和故障诊断，ICT目前还没有一个很好的办法。

有鉴于上述的缺陷，本设计人，积极加以研究创新，以期创设一种新型结构的电路板并行在线测试平台，使其更具有产业上的利用价值。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明的目的是提供一种能够最多同时测试24个UUT的电路板并行在线测试平台。

本发明的技术方案如下：

一种电路板并行在线测试平台，其特征在于：包括ICT测试平台和测试夹具，所述测试夹具用于夹紧UUT被测板，所述测试夹具和UUT被测板之间设置有FPGA并行测试设备。

进一步的，所述FPGA并行测试设备包括NiosⅡ结构模块、Verilog驱动模块以及1-24测试端口。

进一步的，所述ICT测试平台为Agilent3070。

进一步的，所述ICT测试通过UART协议连接所述NiosⅡ结构模块。

进一步的，所述NiosⅡ结构模块通过SPI协议连接所述Verlog驱动模块。

进一步的，所述1-24测试端口通过SPI协议连接所述UUT被测板。

进一步的，所述UUT被测板最多可以设置24个被测UUT。

借由上述方案，本发明至少具有以下优点：

目前测试一个UUT的单位时间为30秒，一个测试库的开发及调试时间为2周，采用本发明中的装置测试一个UUT的单位时间为15秒，24个UUT的并行测试时间也是15秒因此平均下来一个UUT的时间为0.625秒，而在该平台上开发及调试的时间为1周。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。

附图说明

图1是本实用结构示意图；

图2是本发明的测试结构图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。

参见图1和图2，本发明一较佳实施例所述的一种电路板并行在线测试平台，包括ICT测试平台和测试夹具，测试夹具用于夹紧UUT被测板，测试夹具和UUT被测板之间设置有FPGA并行测试设备。其中本发明中FPGA并行测试设备包括，NiosⅡ结构模块、Verilog驱动模块以及1-24测试端口。本发明中ICT测试平台为Agilent3070，被测试夹具最多可以设置24个被测UUT。

本发明的工作原理如下：

ICT测试平台通过UART协议连接NiosⅡ结构模块，并将启动命令发送给NiosⅡ结构模块，NiosⅡ结构模块在通过SPI协议将编程命令及内容发送给Verilog驱动模块，最后Verilog驱动模块通过SPI协议将编程命令及内容通过1-24测试端口分别发送给24个UUT，同时进行编程内容的验证并把结果反馈给ICT。

本发明装置是通过引入FPGA(Field－ProgrammableGateArray)，即现场可编程门阵列器件对其进行编程定制相应的并行测试电路，从而提高了ICT并行测试和故障诊断的效率，在目前的实施方案中，我们实现了同时对24个UUT(每个UUT有5个测试管脚)并行测试，其测试效率试单个UUT测试的24倍，另外理论上我们可以扩展到支持更多UUT的并行测试，因此越多的UUT并行测试其效率提高的就更高。

本发明的有益效果如下：