[发明专利]一种颗粒材料缓冲性能的测量系统在审

专利信息
申请号: 201510275423.9 申请日: 2015-05-26
公开(公告)号: CN104964901A 公开(公告)日: 2015-10-07
发明(设计)人: 季顺迎;樊利芳;陈晓东 申请(专利权)人: 大连理工大学
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00
代理公司: 大连理工大学专利中心 21200 代理人: 李宝元;梅洪玉
地址: 116024 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 颗粒 材料 缓冲 性能 测量 系统
【权利要求书】:

1.一种颗粒材料缓冲性能的测量系统,其特征在于,该测量系统包括固定支架、颗粒冲击系统、力学响应测量系统和图像采集系统;

固定支架由竖直杆和横杆组成;标有刻度值的竖直杆固定在底座上,横杆和竖直杆之间活动连接,横杆自由调节高度;

颗粒冲击系统包括颗粒物质和冲击物两部分;颗粒物质置于圆筒内,圆筒壁上标有刻度值,其底部设有3个用于安放力传感器的孔,力传感器之间的夹角度120°;冲击物通过细线悬挂在横杆上,位于圆筒的正上方;细线、加速度传感器的重心及冲击物的重心三者在同一条直线上;

力学响应测量系统包括力传感器和加速度传感器,加速度传感器固定在冲击物上方,测量冲击物在竖直方向的加速度;力传感器和加速度传感器分别与动态数据采集仪相连接;3个力传感器测量值之和即为圆筒所受冲击力;

图像采集系统包括摄像机,将摄像机放置在距离颗粒冲击系统适当的位置处,用来记录冲击过程中颗粒层表面和冲击物运动的变化。

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