[发明专利]一种X射线成像装置及方法有效

专利信息
申请号: 201510278903.0 申请日: 2015-05-27
公开(公告)号: CN104983436B 公开(公告)日: 2017-09-26
发明(设计)人: 陈平;韩焱;赵康;潘晋孝;王黎明;苏新彦 申请(专利权)人: 中北大学
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 北京德琦知识产权代理有限公司11018 代理人: 谢安昆,宋志强
地址: 030051*** 国省代码: 山西;14
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摘要:
搜索关键词: 一种 射线 成像 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种X射线成像装置,其特征在于,包括:图像采集模块、图像质量评价模块以及反馈控制模块;

所述图像采集模块,用于当每次接收到所述反馈控制模块发送来的电压值时,按照最新接收到的电压值对待测物体进行图像采集,并将采集到的图像发送给所述图像质量评价模块;

所述图像质量评价模块,用于当每次接收到所述图像采集模块发送来的图像时,确定出最新接收到的图像的质量评价值,并将该质量评价值发送给所述反馈控制模块;

所述反馈控制模块,用于当每次接收到所述图像质量评价模块发送来的质量评价值时,根据最新接收到的质量评价值确定出是否需要进行电压值调整,如果是,则进一步确定出调整后的电压值,并将该电压值发送给所述图像采集模块;

其中,所述图像质量评价模块中包括:提取单元和评价单元;

所述提取单元,用于按照预定的位置要求,从最新接收到的图像中提取出一幅子图像,并将该子图像发送给所述评价单元;

所述评价单元,用于计算出最新接收到的子图像的线性散布度和平均对比度,并根据线性散布度和平均对比度进一步计算出质量评价值,将该质量评价值发送给所述反馈控制模块。

2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,

所述线性散布度

其中,n表示每幅子图像中包括的像素点数;

Ik(i)表示最新接收到的子图像Ik中任一坐标位置的像素点i的灰度值;

Ik-1(i)表示相邻前一次接收到的子图像Ik-1中、相同坐标位置的像素点i的灰度值;

p1和p2分别表示根据所构成的灰度点分布图拟合出的直线系数;

灰度点分布图中共包括n个坐标点,每个坐标点i分别对应一个像素点i,且坐标点i的横坐标为Ik-1(i),坐标点i的纵坐标为Ik(i)。

3.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,

所述平均对比度

其中,Gmax表示最新接收到的子图像中的各像素点的灰度值中的最大值;

Gmin表示最新接收到的子图像中的各像素点的灰度值中的最小值;

Ga表示最新接收到的子图像中的各像素点的灰度值的平均值。

4.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,

所述质量评价值

其中,Vld表示线性散布度;

AC表示平均对比度;

α和β表示设定的评价系数。

5.根据权利要求1~4中任一项所述的装置,其特征在于,

所述反馈控制模块中包括:第一控制单元和第二控制单元;

所述第一控制单元,用于计算出最新接收到的质量评价值与相邻前一次接收到的质量评价值的差值绝对值,并将该差值绝对值与预定目标值进行比较,如果大于目标值,则确定需要进行电压值调整,并将该差值绝对值发送给所述第二控制单元;

所述第二控制单元,用于根据最新接收到的差值绝对值确定出调整后的电压值,并将该电压值发送给所述图像采集模块。

6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,

所述目标值为0.01;

所述调整后的电压值u(k)=u(k-1)+Δu(k);

其中,Δu(k)=KpΔe(k)+Kie(k)+Kd[Δe(k)-Δe(k-1)];

Δe(k)=e(k)-e(k-1);

e(k)=|ΔSOA-0.01|;

ΔSOA表示差值绝对值;

k表示最新一次调整对应的结果,k-1表示相邻前一次调整对应的结果;

Kp、Ki、Kd分别表示训练得到的比例、积分、微分系数。

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