[发明专利]一种测试光路保护设备失效率的系统及方法有效
申请号: | 201510279090.7 | 申请日: | 2015-05-28 |
公开(公告)号: | CN105024749B | 公开(公告)日: | 2017-09-15 |
发明(设计)人: | 杨春 | 申请(专利权)人: | 武汉网锐实验室(信息产业光通信产品质量监督检验中心) |
主分类号: | H04B10/032 | 分类号: | H04B10/032;H04B10/079 |
代理公司: | 北京捷诚信通专利事务所(普通合伙)11221 | 代理人: | 王卫东 |
地址: | 430074 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测试 保护 设备 失效 系统 方法 | ||
技术领域
本发明涉及通信光路测试领域,具体涉及一种测试光路保护设备失效率的系统及方法。
背景技术
光通信系统中常用的光路保护设备(例如OLP,即光线路保护设备、光旁路器等)内部使用OSW(光开关)作为光路切换手段。参见图1所示,光路保护设备内置的光探测器检测到输入功率降低至设定的光功率门限值以下时,会产生LOS(信号丢失告警)信号,进而触发光开关切换。
对于光路保护设备而言,其失效率(即不能出现该切换时不切换、不该切换时切换的情况)需要控制在万分之一以下(即一万次切换只能出现少于一次的失误),目前,人们一般通过手动和自动两种方法测试光路保护设备失效率。
下面分别对上述手动和自动两种方法的具体过程和缺陷进行说明。
(1)手动测试光路保护设备失效率时,通过人工在工作光路和备份光路之间进行切换,用功率计在输出光路查看光功率是否有变化,若是则切换成功,否则切换失败。由于需要将失效率控制在万分之一以下,因此人工需要重复上述过程至少一万次以上,不仅费时费力,工作效率较低,而且需要计算切换次数,难以实施。
(2)自动测试光路保护设备失效率,就是通过计算机程序控制相关仪表自动完成测试过程;但是,自动测试光路保护设备失效率只是人们提出的一种理念,目前没有具体的实施过程。
发明内容
针对现有技术中存在的缺陷,本发明的目的在于提供一种测试光路保护设备失效率的系统及方法,本发明不仅显著的提高了测试效率和测试精度,而且劳动强度较低,便于人们使用,适于推广。
为达到以上目的,本发明提供的测试光路保护设备失效率的系统,包括被测试设备,被测试设备包括两只分光器:工作分光器和保护分光器、两只光探测器:工作光探测器和保护光探测器、控制单元和光开关;工作分光器通过工作光探测器与控制单元相连,保护分光器通过保护光探测器与控制单元相连;工作分光器、保护分光器、控制单元均与光开关相连;
所述测试光路保护设备失效率的系统还包括光源、两只分光器:第一分光器Splitter1和第二分光器Splitter2、两台光开关:第一光开关OSW1和第二光开关OSW2、光功率计和控制装置;所述光源通过Splitter1分别与OSW1、被测试设备的保护分光器相连;OSW1的支路通道ch1与Splitter2相连,支路通道ch2悬空;Splitter2分别与OSW2、被测试设备的工作分光器相连,被测试设备的光开关输出端与OSW2相连,OSW2与光功率计相连;控制装置分别与OSW1、OSW2、光功率计相连;
光源的光信号通过Splitter1分为两路信号,其中一路为输出至被测试设备保护分光器的信号A,另一路信号输出至OSW1的输入口;控制装置控制OSW1在其输出通道ch1和ch2之间切换,在输出通道ch1得到一个方波信号,Splitter1将方波信号分为两路信号,其中一路为输出至被测试设备工作分光器的测试设备光开关切换触发信号B,另一路为输出至OSW2的ch1输入通道的参考信号C;被测试设备的输出光路信号D输出至OSW2的ch2输入通道,光功率计接收OSW2的输出信号。
在上述技术方案的基础上,所述控制装置选用计算机。
本发明提供的基于上述系统的测试光路保护设备失效率的方法,包括以下步骤:
S1:将光源设置为连续光输出状态,将被测试设备的光开关与工作分光器相连,此时工作分光器的输出信号B处于高电平状态;被测试设备的光开关将B作为被测试设备的输出信号D进行输出,转到步骤S2;
S2:控制装置根据预先设置的切换次数和切换时间,控制OSW1在其输出通道ch1和ch2之间切换;被测试设备的工作光探测器实时检测B的光功率是否小于预先设置的信号丢失告警LOS门限,若是,则B信号处于低电平,转到步骤S3,否则B信号处于高电平,转到步骤S4;
S3:工作光探测器向控制单元产生LOS告警,控制单元控制保护光探测器检测收到保护分光器输出的信号A时,控制单元将光开关切换至与保护分光器相连,将A作为被测试设备输出信号D进行输出,转到步骤S5;
S4:工作光探测器向控制单元发出LOS告警消失信号,控制单元将光开关切换至与工作分光器相连,光开关将B作为被测试设备输出信号D进行输出,转到步骤S5;
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