[发明专利]一种检测磁性元件磁通量的设备

说明书

技术领域

本发明涉及一种检测设备，尤其是涉及一种检测磁性元件磁通量的设备。

背景技术

随着科学技术的发展，磁性元件越来越多的应用到各个领域。为了保证磁性元件的质量，在磁性元件生产完成后，需要检测其各个重要参数(例如磁通量)是否在合格范围内。

现有的测量磁通量的设备一般包括磁通线圈(亥姆霍兹线圈)和磁通计，磁通线圈和磁通计连接。在测试磁通量时，开启磁通计，将磁性元件先放入磁通线圈内，然后将磁性元件从磁通线圈内拿出并远离磁通线圈一段距离后，磁通计测试出该磁性元件的磁通量并通过其显示屏输出。但是现有的测量磁通量的设备存在以下问题：一、磁性元件需要先放入磁通线圈内然后再远离磁通线圈才能完成一个检测过程，操作比较复杂；二、理论上磁性元件远离磁通线圈的距离越远，磁通计测试的磁通量的测试数据精度越高，但是在现实生产中，为了保证测试的效率，磁性元件远离磁通线圈的距离是确定的，这个距离不会太大，由此磁性元件会对磁通计的测试造成干扰，以致磁通量的测试数据的精度不高。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种操作简单，且精度较高的检测磁性元件磁通量的设备。

本发明解决上述技术问题所采用的技术方案为：一种检测磁性元件磁通量的设备，包括支撑架、固定在所述的支撑架上的载物台、位于所述的载物台正下方的电子称及铁块，所述的载物台由非导磁材料制备而成，所述的载物台的上表面和下表面均为水平面，所述的铁块放置在所述的电子称上，所述的铁块的上表面和下表面均为水平面，所述的铁块的上表面与所述的载物台的下表面之间具有一段间隙。

所述的载物台的厚度不超过3mm，所述的铁块的上表面与所述的载物台的下表面之间的间隙不超过10mm。

所述的非导磁材料为不锈钢。

所述的载物台的上表面和下表面均磨光，所述的铁块的上表面和下表面均磨光。

与现有技术相比，本发明的优点在于通过开启电子称，对电子称置零(去皮)后将标准件(磁通量合格的磁性元件)放在在载物台上，标准件对铁块产生吸引力，此时电子称的读数为负数，根据此时电子称的读数以及待检测的磁通量的公差范围确定磁通量合格的磁性元件在电子称上显示的读数范围，使磁性元件的磁通量通过电子称的读数来表现，操作人员仅需将待测的磁性元件放在载物台，既可根据电子称的读数判定该磁性元件的磁通量是否合格，操作简单，且磁通量的合格与否通过电子称的读数来表现，不会受到外界因素的干扰，测试精度较高；

当载物台的厚度不超过3mm，铁块的上表面与载物台的下表面之间的间隙不超过10mm时，可以保证磁性元件对铁块的吸引力，避免电子称读数太小难以分辨；

当载物台的上表面和下表面均磨光，铁块的上表面和下表面均磨光时，进一步提高载物台和铁块水平性，提高检测精度。

附图说明

图1为本发明的结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图实施例对本发明作进一步详细描述。

实施例：如图所示，一种检测磁性元件磁通量的设备，包括支撑架1、固定在支撑架1上的载物台2、位于载物台2正下方的电子称3及铁块4,载物台2由非导磁材料不锈钢制备而成，载物台2的上表面和下表面均为水平面，铁块4放置在电子称3上，铁块4的上表面和下表面均为水平面，铁块4的上表面与载物台2的下表面之间具有一段间隙。

本实施例中，载物台2的厚度为3mm，铁块4的上表面与载物台2的下表面之间的间隙为10mm。

本实施例中，载物台2的上表面和下表面均磨光，铁块4的上表面和下表面均磨光。

在本发明中，可设置一水平基准面5,支撑架1固定安装在水平基准面5上，电子称3放置在水平基准面5上，由此保证安装在支撑架1上的载物台2的上表面和下表面保持水平，放置在电子称3上的铁块4的上表面和下表面保持水平。

本发明的工作原理为：首先开启电子称3,电子称3上显示铁块4的重量，将电子称3置零或者去皮后将标准件(磁通量合格的磁性元件)放在在载物台2上，标准件对铁块4产生吸引力，此时电子称3的读数变为负数，根据此时电子称3的读数以及待检测的磁通量的公差范围确定磁通量合格的磁性元件测试时在电子称3上应该显示的合格读数范围，然后将待测磁性元件6放置在载物台2上且使其位于铁块4的正上方，电子称3上会显示出一个读数，如果该读数在确定的合格读数范围内，则待测磁性元件6的磁通量合格，反之则不合格。