[发明专利]一种自动测试纹波的装置和方法有效
| 申请号： | 201510287879.7 | 申请日： | 2015-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN104865430B | 公开（公告）日： | 2019-01-01 |
| 发明（设计）人： | 彭骞;沈亚非;胡磊;徐梦银;肖家波;陈凯 | 申请（专利权）人： | 武汉精测电子集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R13/00 | 分类号： | G01R13/00 |
| 代理公司： | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人： | 黄行军 |
| 地址： | 430070 湖北省武汉市洪*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 自动 测试 装置 方法 | ||
1.一种自动测试纹波的装置，其特征在于，包括：
控制单元模块(1)，用于通过上层接口模块接收上位机下发协议指令、分别向采样模块和上层接口模块发出控制指令，控制采样模块和上层接口模块的工作过程；
输入电压转换模块(2)，用于对待测纹波信号进行电压信号的转换与采集，形成可测试的匹配信号；
采样模块(3)，用于对可测试的匹配信号进行采样、将采样的数据输出到示波器进行分解量测；
示波器(4)，用于根据设置的基准参数对接收的采样数据进行分解量测、显示分解量测后的波形、将波形输出至上层接口控制模块；
上层接口模块(5)，用于接收上位机发送的基准参数下发至示波器、接收上位机发送的协议指令下发至控制单元模块、接收示波器输出的波形上传至上位机；
所述采样模块包括：
pk-pk值采样模块(31)，用于对可测试的匹配信号进行pk-pk值采样，将采样的pk-pk值数据输出至示波器；
周期采样模块(32)，用于对可测试的匹配信号进行周期采样，将采样的周期数据输出至示波器；
频率采样模块(33)，用于对可测试的匹配信号进行频率采样，将采样的频率数据输出至示波器。
2.一种利用权利要求1所述的装置自动测试纹波的方法，其特征在于，包括以下步骤：
1)所述上层接口模块(5)接收上位机(6)下发的协议指令，并发送到控制单元模块(1)；
2)所述控制单元模块(1)根据协议指令分别向采样模块(3)和上层接口模块(5)发送控制指令；
3)所述输入电压转换模块(2)对待测纹波信号进行电压信号的转换与采集，形成可测试的匹配信号，发送至采样模块(3)；
4)所述上层接口模块(5)根据控制指令接收上位机发送的基准参数下发至示波器(4)；
5)所述采样模块(3)根据接收的控制指令对匹配信号进行采样，将采样的数据输出至示波器(4)；
6)所述示波器(4)根据接收的基准参数对接收到采样数据进行分解量测，显示分解量测后的波形同时输出波形至上层接口控制模块(5)；
7)所述上层接口模块(5)将接收的波形上传至上位机(6)。
3.根据权利要求2所述的自动测试纹波的方法，其特征在于：所述采样模块(3)中的pk-pk值采样模块(31)对匹配信号进行pk-pk值采样，将采样的pk-pk值数据输出至示波器(4)。
4.根据权利要求2所述的自动测试纹波的方法，其特征在于：所述采样模块(3)中的周期采样模块(32)对匹配信号进行周期采样，将采样的周期数据输出至示波器(4)。
5.根据权利要求2所述的自动测试纹波的方法，其特征在于：所述采样模块(3)中的频率采样模块(33)对匹配信号进行频率采样，将采样的频率数据输出至示波器(4)。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉精测电子集团股份有限公司，未经武汉精测电子集团股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510287879.7/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：电离电流的测量装置和测量方法
- 下一篇：便于清洁且防卡滞的免疫定量分析仪
