[发明专利]一种自动测试导电滑环接触电阻的装置及方法有效

专利信息
申请号: 201510292334.5 申请日: 2015-06-01
公开(公告)号: CN104849559B 公开(公告)日: 2017-12-08
发明(设计)人: 许永衡;李勇;张强 申请(专利权)人: 绵阳市维博电子有限责任公司
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司11227 代理人: 王学强,罗满
地址: 621000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 自动 测试 导电 滑环 接触 电阻 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种自动测试导电滑环接触电阻的装置,外部设置有低电阻测试仪,其特征在于,包括:导电滑环、若干个继电器、继电器驱动器、自动控制设备、若干导线;其中,

所述导电滑环的通道数为M,所述继电器的个数为N=2M;

所述继电器分为两组:A组的编号为2M-1,B组的编号为2M;

所述N个继电器与所述导电滑环M路通道的每一路相连,构成2N个测试通道的切换,每相邻4个继电器完成两个四线测试通道的切换;每个继电器的1脚与所述导电滑环连接在一起,A组继电器短接在一起构成“测试点1”,B组继电器短接在一起构成“测试点2”;

所述继电器驱动器输出端与所述继电器连接,其输入端与所述自动控制设备相连接;

所述低电阻测试仪的测试输入端分别连接所述“测试点1”、“测试点2”,并通过RS232接口与自动控制设备相连接;

整个测试过程自动控制设备采用两次控制切换的工作方式,继电器进行测试通道的切换选择,以实现将所述“测试点1”、“测试点2”引出来进行测试;具体包括以下步骤:

步骤一、自动控制设备控制2个连通的继电器进行测试通道的切换选择,构成总测试回路,通过低电阻测试仪测试所构成的总测试回路的总电阻值;

步骤二、自动控制设备控制2个连通继电器进行测试通道的切换选择,构成支测试回路,通过低电阻测试仪测试所构成的支测试回路的电阻值;

步骤三、根据步骤一、步骤二所得的电阻值计算出所述导电滑环的接触电阻值。

2.根据权利要求1所述的一种自动测试导电滑环接触电阻的装置,其特征在于,所述继电器为电磁继电器。

3.根据权利要求2所述的一种自动测试导电滑环接触电阻的装置,其特征在于,所述继电器的接触电阻小于10mΩ。

4.根据权利要求1所述的一种自动测试导电滑环接触电阻的装置,其特征在于,所述步骤一中,所述自动控制设备控制所述继电器,使继电器A组中2M-1号继电器和B组中2(M+1)号继电器连通形成1个总测试回路;使继电器A组中2(M+1)-1号继电器和B组中2M号继电器连通形成1个总测试回路。

5.根据权利要求1所述的一种自动测试导电滑环接触电阻的装置,其特征在于,所述步骤二中,所述自动控制设备控制所述继电器,使继电器A组中2M-1号继电器与B组中2M号继电器连通,从而形成2个支测试回路。

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