[发明专利]红外显微镜的放大组件有效
申请号: | 201510295827.4 | 申请日: | 2015-06-02 |
公开(公告)号: | CN105203457B | 公开(公告)日: | 2019-10-08 |
发明(设计)人: | 孙寅生;穆斯塔法·堪斯 | 申请(专利权)人: | 安捷伦科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人: | 李晓冬 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 红外 显微镜 放大 组件 | ||
1.一种红外显微镜(200),包括:
样品台(210),其配置成支持样品(220);
物镜(110),其配置成将从所述样品(220)发射的辐射聚焦到物镜(110)和红外探测器(140)之间的中间像平面(310);以及
放大组件(320),其包括第二组反射元件和设置在固定位置处的第一组反射元件,所述第二组反射元件配置成在非工作位置和工作位置之间移动,在所述非工作位置,辐射入射在所述第一组反射元件上,在所述工作位置,所述辐射入射在所述第二组反射元件上并且所述第二组反射元件有效地阻挡所述第一组反射元件,其中,由所述放大组件(320)提供的放大倍率被改变。
2.根据权利要求1所述的红外显微镜(200),其中,所述第二组反射元件配置成在所述非工作位置和工作位置之间基本一致地移动。
3.根据权利要求1所述的红外显微镜(200),其中,所述第二组反射元件包括以彼此固定的关系布置的两个反射元件。
4.根据权利要求1所述的红外显微镜(200),其中,所述第二组反射元件包括彼此相对的两个反射元件,每个反射元件相对于在所述第二组反射元件的第一个反射元件和所述第二组反射元件的第二个反射元件之间延伸的对准轴线(360)基本对中。
5.根据权利要求4所述的红外显微镜(200),其中,所述第二组反射元件配置成通过围绕旋转轴线旋转在所述工作位置和所述非工作位置之间移动,所述旋转轴线与在所述第二组反射元件之间延伸的所述对准轴线(360)基本平行。
6.一种用于红外显微镜(200)的放大组件(320)配件,包括:
第二组反射元件和设置在固定位置处的第一组反射元件,所述第二组反射元件配置成在非工作位置和工作位置之间移动,在所述非工作位置,辐射入射在所述第一组反射元件上,在所述工作位置,所述辐射入射在所述第二组反射元件上并且所述第二组反射元件有效地阻挡所述第一组反射元件,从而,所述放大组件(320)提供的放大倍率被改变。
7.根据权利要求6所述的放大组件(320)配件,其中,所述第二组反射元件包括以彼此固定的关系布置的两个反射元件。
8.根据权利要求6所述的放大组件(320)配件,其中,所述第二组反射元件包括彼此相对的两个反射元件,每个反射元件相对于在所述第二组反射元件的第一个反射元件和所述第二组反射元件的第二个反射元件之间延伸的对准轴线(360)基本对中。
9.根据权利要求6所述的放大组件(320)配件,其中,所述第一组反射元件包括两个反射元件。
10.一种红外显微镜(200),包括:
样品台(210),其配置成支持样品(220);
物镜(110),其用于将从所述样品(220)发射的辐射聚焦到物镜(110)和红外探测器(140)之间的中间像平面(310);以及
放大组件(320),其包括第二组反射元件和设置在固定位置处的第一组反射元件,所述第二组反射元件配置成在非工作位置和工作位置之间移动,在所述非工作位置,辐射入射在所述第一组反射元件上,在所述工作位置,所述辐射入射在所述第二组反射元件上并且所述第二组反射元件有效地阻挡所述第一组反射元件,从而,由所述放大组件(320)提供的放大倍率得以改变,并且所述放大组件(320)定位在所述中间像平面(310)和所述红外探测器(140)之间。
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