[发明专利]放射线图像检测装置及其制造方法

权利要求书

1.一种放射线图像检测装置，其特征在于，依次具备：

由支承体和设于该支承体上的具有膜厚分布的闪烁体层构成的闪烁体面板、

粘接剂层、

平面受光元件，

该支承体及该平面受光元件中的至少一方弯曲，从而使该闪烁体面板和该平面受光元件隔着该粘接剂层在面内以均匀的距离配置。

2.如权利要求1所述的放射线图像检测装置，其特征在于，

将所述支承体的弹性模量设为E1且将所述支承体的膜厚设为d1时的、相对于所述闪烁体层的面方向的所述闪烁体层表面的最大倾斜角θ满足由下述式(1)表示的关系，

【式1】

tanθ×E1×d1≤0.1…(1)

或

将所述平面受光元件的弹性模量设为E2且将所述平面受光元件的膜厚设为d2时的、相对于所述闪烁体层的面方向的所述闪烁体层表面的最大倾斜角θ满足由下述式(2)表示的关系，

【式2】

tanθ×E2×d2≤0.1…(2)

其中，E1、E2的单位是GPa，d1、d2的单位是mm。

3.如权利要求1或2所述的放射线图像检测装置，其特征在于，

所述粘接剂层的膜厚为1～30μm。

4.如权利要求1或2所述的放射线图像检测装置，其特征在于，

所述粘接剂层为含有一种或两种以上的热熔性树脂的层。

5.如权利要求4所述的放射线图像检测装置，其特征在于，

所述粘接剂层为两种以上的层的叠层体，该两种以上的层由熔点分别不同的热熔性树脂形成。

6.如权利要求5所述的放射线图像检测装置，其特征在于，

所述叠层体中，形成与闪烁体层接触的层的热熔性树脂的熔点比形成与平面受光元件接触的层的热熔性树脂的熔点高。

7.如权利要求4所述的放射线图像检测装置，其特征在于，

所述粘接剂层除了包含一种或两种以上的热熔性树脂之外，还包含间隔粒子，所述间隔粒子具有与该粘接剂层的膜厚相同程度的粒径，且具有与该热熔性树脂相同程度的折射率。

8.如权利要求1或2所述的放射线图像检测装置，其特征在于，

所述闪烁体层通过蒸镀形成。

9.如权利要求8所述的放射线图像检测装置，其特征在于，

所述闪烁体层通过蒸镀包含碘化铯和至少一种活化剂的荧光体材料而形成。

10.如权利要求1或2所述的放射线图像检测装置，其特征在于，

所述支承体由玻璃板或树脂膜构成。

11.如权利要求10所述的放射线图像检测装置，其特征在于，

所述支承体由树脂膜构成。

12.如权利要求1或2所述的放射线图像检测装置，其特征在于，

构成所述平面受光元件的基板由玻璃板或树脂膜构成。

13.如权利要求12所述的放射线图像检测装置，其特征在于，

构成所述平面受光元件的基板由树脂膜构成。

14.一种放射线图像检测装置的制造方法，所述放射线图像检测装置依次具备：由支承体和设于该支承体上的具有膜厚分布的闪烁体层构成的闪烁体面板、粘接剂层、平面受光元件，该放射线图像检测装置的制造方法的特征在于，在50～150℃的加温下将该闪烁体面板与该平面受光元件接合，使隔着该粘接剂层的闪烁体面板和平面受光元件之间的距离在面内变得均匀。

15.如权利要求14所述的放射线图像检测装置的制造方法，其特征在于，

所述粘接剂层为包含一种或两种以上的热熔性树脂的层，该热熔性树脂的熔融粘度为100～100,000Pa·s。

16.如权利要求14或15所述的放射线图像检测装置的制造方法，其特征在于，

除了50～150℃的加温下之外，还在10,000～1,000,000Pa的加压下，将所述闪烁体面板与该平面受光元件接合。