[发明专利]用于将区段对准的方法和设备

权利要求书

1.一种用于将区段相对于彼此对准的方法，

其中第一区段具有第一组的基准点和第二组的基准点；

其中第二区段具有第三组的基准点和第四组的基准点；

其中所述第一组的基准点和所述第三组的基准点基本上位于共同的第一线上，所述第一线平行于所述第一区段的和所述第二区段的纵轴伸展；

其中所述第二组的基准点和所述第四组的基准点基本上位于共同的第二线上，所述第二线平行于所述第一区段的和所述第二区段的纵轴伸展，所述方法具有：

借助于第一投影装置将第一投影线投影到所述第一区段上和所述第二区段上，

借助于第二投影装置将第二投影线投影到所述第一区段上和所述第二区段上，

其中所述第一投影线与共同的所述第一线连接；

其中所述第二投影线与共同的所述第二线连接；

通过在所述第一投影线上作垂线来测量在所述第一组的每个基准点与所述第一投影线之间的间距和在所述第三组的每个基准点与所述第一投影线之间的间距；

通过在所述第二投影线上作垂线来测量在所述第二组的每个基准点与所述第二投影线之间的间距和在所述第四组的每个基准点与所述第二投影线之间的间距；

确定所述第一区段的第一最佳拟合线和/或第一最佳拟合平面；

确定所述第一区段的第二最佳拟合线和/或第二最佳拟合平面；

确定所述第二区段的第一最佳拟合线和/或第一最佳拟合平面；

确定所述第二区段的第二最佳拟合线和/或第二最佳拟合平面；

将所述第一区段的第一最佳拟合线和/或第一最佳拟合平面在所述第一投影线上对准；

将所述第二区段的第一最佳拟合线和/或第一最佳拟合平面在所述第一投影线上对准；

将所述第一区段的第二最佳拟合线和/或第二最佳拟合平面在所述第二投影线上对准；

将所述第二区段的第二最佳拟合线和/或第二最佳拟合平面在所述第二投影线上对准。

2.根据上一项所述的方法，所述方法还包括：

借助于另外的投影装置将另外的投影线投影到所述第一区段和所述第二区段上。

3.根据上述权利要求中任一项所述的方法，

其中关于施工现场坐标系进行间距的测量和/或对准。

4.根据上述权利要求中任一项所述的方法，所述方法还具有：

将所述第一区段的第一最佳拟合线和所述第二区段的第一最佳拟合线对准，使得所述第一区段的第一最佳拟合线和所述第二区段的第一最佳拟合线是叠合的和/或将所述第一区段的第二最佳拟合线和所述第二区段的第二最佳拟合线对准，使得所述第一区段的第二最佳拟合线和所述第二区段的所述第二最佳拟合线是叠合的。

5.根据上述权利要求中任一项所述的方法，所述方法还包括：

将所述第一区段的第一最佳拟合平面和所述第二区段的第一最佳拟合平面对准，使得所述第一区段的第一最佳拟合平面和所述第二区段的第一最佳拟合平面是叠合的和/或将所述第一区段的第二最佳拟合平面和所述第二区段的第二最佳拟合平面对准，使得所述第一区段的第二最佳拟合平面和所述第二区段的第二最佳拟合平面是叠合的。

6.根据上述权利要求中任一项所述的方法，所述方法还包括：

将所述第一区段的第一最佳拟合线和所述第二区段的第一最佳拟合线对准，使得所述第一区段的第一最佳拟合线与所述第二区段的第一最佳拟合线具有到所述第一投影线的最小间距和/或将第一区段的第二最佳拟合线和所述第二区段的第二最佳拟合线对准，使得所述第一区段的第二最佳拟合线与所述第二区段的第二最佳拟合线具有到所述第二投影线的最小间距。

7.根据上述权利要求中任一项所述的方法，所述方法还包括：

所述第一区段的第一最佳拟合平面和所述第二区段的第一最佳拟合平面对准，使得所述第一区段的第一最佳拟合平面和所述第二区段的第一最佳拟合平面具有到所述第一投影线的最小间距和/或将所述第一区段的第二最佳拟合平面和所述第二区段的第二最佳拟合平面对准，使得所述第一区段的第二最佳拟合平面和所述第二区段的第二最佳拟合平面具有到所述第二投影线的最小间距。

8.根据上述权利要求中任一项所述的方法，

其中两个所述区段是具有底板的机身部件。