[发明专利]多孔陶瓷表面粗糙度的检测系统、方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，特别是涉及一种多孔陶瓷表面粗糙度的检测系统、方法及装置。

背景技术

多孔陶瓷因其具有高强度、高硬度、良好的抗磨损性能和抗热震性能，较高的热导率，较低的热膨胀系数，在航空航天、汽车制动、电子封装、机械制造等工业领域有着广泛的应用。多孔陶瓷以高气孔率为主要特征，表面均匀布满了微孔，因而多孔陶瓷的表面存在着粗糙度，多孔陶瓷表面粗糙度影响着零件的耐磨性、密封性疲劳强度及表面涂层的附着强度等重要参数，尤其在陶瓷多孔轴套中直接关系到转动噪声的大小、含油率等重要参数。为了确保多孔陶瓷材料的零件的合格率需要检测多孔陶瓷的粗糙度。

传统的零件粗糙度的检测方法，将粗糙度测试仪的测针在零件表面划过，以形成由多个波峰和波谷形成的轮廓曲线图，通过计算波峰和波谷上各点到基准线距离的绝对值的算术平均值获得零件表面的粗糙度。由于多孔陶瓷其表面存成很多孔隙，若使用传统的零件粗糙度的检测方法对多孔陶瓷进行检测，测针会在测量时掉进孔隙中，孔隙形成的波谷会影响到粗糙度的计算，造成粗糙度计算不准确。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能提高多孔陶瓷粗糙度检测准确度的多孔陶瓷表面粗糙度的检测系统、方法及装置。

一种多孔陶瓷表面粗糙度的检测系统，其特征在于，所述系统包括：终端以及接触式表面粗糙度仪；其中，所述接触式表面粗糙度仪包括仪器本体和接触式测头；所述仪器本体分别与终端以及接触式测头连接；

所述终端，用于向所述仪器本体发送测量指令，接收所述仪器本体返回的测量数据，并输出所述测量数据对应的轮廓曲线图，所述轮廓曲线图上包含：基准线以及若干波峰和波谷；通过所述轮廓曲线图获取波峰中的最高波峰对应的峰高值；根据所述峰高值计算被测多孔陶瓷的表面粗糙度。

所述仪器本体，用于接收终端发送的测量指令，根据测量指令控制接触式测头紧贴在被测多孔陶瓷的表面；获取接触式测头对被测多孔陶瓷表面进行粗糙度检测时采集到的测量数据，并将测量数据返回至所述终端；

所述接触式测头，用于在被测多孔陶瓷表面划过一段预设距离，并采集测量数据。

在其中一个实施例中，所述终端还用于获取用户从所述轮廓曲线图中包含的波峰中选取的最高波峰；计算所述最高波峰距离所述基准线之间的垂直距离值，所述垂直距离值即为波峰值。

一种多孔陶瓷表面粗糙度的检测方法，应用于终端，所述方法包括：

接收接触式表面粗糙度仪发送的对被测多孔陶瓷进行表面粗糙度检测后得到的测量数据，并输出所述测量数据对应的轮廓曲线图，所述轮廓曲线图上包含：基准线以及若干波峰和波谷；

通过所述轮廓曲线图获取波峰中的最高波峰对应的峰高值；

根据所述峰高值计算被测多孔陶瓷的表面粗糙度。

在其中一个实施例中，在所述获取对被测多孔陶瓷进行表面粗糙度检测后得到的测量数据的步骤之前，还包括：

发送检测指令至接触式表面粗糙度仪，使得所述接触式表面粗糙度仪对被测多孔陶瓷进行表面粗糙度进行检测。

在其中一个实施例中，所述通过所述轮廓曲线图获取波峰中最高波峰对应的峰高值的步骤，包括：

获取用户从所述轮廓曲线图中包含的波峰中选取的最高波峰；

计算所述最高波峰距离所述基准线之间的垂直距离值，所述垂直距离值即为波峰值。

在其中一个实施例中，所述根据所述峰高值计算被测多孔陶瓷的表面粗糙度的步骤，包括：

计算峰高值与预设常量之间的比值，所述比值即为被测多孔陶瓷的表面粗糙度。

一种多孔陶瓷表面粗糙度的检测装置，所述装置包括：

图像输出模块，用于接收接触式表面粗糙度仪发送的对被测多孔陶瓷进行表面粗糙度检测后得到的测量数据，并输出所述测量数据对应的轮廓曲线图，所述轮廓曲线图上包含：基准线以及若干波峰和波谷；

峰高值获取模块，用于通过所述轮廓曲线图获取波峰中的最高波峰对应的峰高值；

粗糙度计算模块，用于根据所述峰高值计算被测多孔陶瓷的表面粗糙度。

在其中一个实施例中，所述装置还包括：

指令发送模块，用于发送检测指令至接触式表面粗糙度仪，使得所述接触式表面粗糙度仪对被测多孔陶瓷进行表面粗糙度进行检测。

在其中一个实施例中，所述峰高值获取模块包括：

波峰获取模块，获取用户从所述轮廓曲线图中包含的波峰中选取的最高波峰；