[发明专利]L10‑FePt基多层膜宽场线性磁电阻传感器及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201510309893.2 申请日: 2015-06-04
公开(公告)号: CN104947057B 公开(公告)日: 2017-08-08
发明(设计)人: 全志勇;宋智林;许小红;刘霞;武彪;张丽 申请(专利权)人: 山西师范大学
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/18;H01L43/10;H01L43/08;H01L43/12
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 041004 *** 国省代码: 山西;14
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摘要:
搜索关键词: l1 sub fept 基多 层膜宽场 线性 磁电 传感器 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.L10-FePt基多层膜宽场线性磁电阻传感器,其特征在于,所述传感器由基片、沉积于基片上的底层、磁性多层膜和保护层构成,基片为单晶MgO(001),底层为Pt,磁性层为FePt/Cu/Fe,保护层为Pt。

2.L10-FePt基多层膜宽场线性磁电阻传感器的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:

S1、在磁控共溅室中安装纯度为99.98%的Fe靶、Pt靶和Cu靶,同时调节Fe靶、Pt靶和Cu靶的靶基距分别为15.3cm、16.0cm、14.0cm;

S2、将尺寸为1×1cm2的单晶MgO(001)装入共溅室,本底真空抽至8.0×10-5Pa,对单晶MgO(001)基片进行在线加温,加热至450℃,保温20min;

S3、通入Ar气,使工作气压保持在5-6Pa,当各工作靶位正常起辉后,将除Pt之外的其他靶灭辉,调节Ar气的工作气压至2.0Pa,Pt靶的直流溅射功率为10W,在此条件下溅射276s,沉积4nm的Pt底层;

S4、将Fe靶起辉,并将Fe靶的直流溅射功率调至35W,通过Pt靶与Fe靶同时溅射656s,沉积20nm的FePt后,将Fe靶和Pt靶灭辉;

S5、将步骤S3和步骤S4所得的两层薄膜在450℃下在线保温2个小时后,将加热电流调为零,开始降温,降到室温后,调节Ar气的工作气压为1.2Pa,Cu靶直流溅射功率为20w,溅射125s,沉积5nm的隔离层Cu后,将Cu靶灭辉;

S6、再次将Fe靶起辉,调节Ar气的工作气压至2.0Pa,直流溅射功率至35W,溅射625s,沉积10nm的自由层Fe;将Fe靶灭辉后,再次将Pt靶起辉,在Ar气的工作气压不变的情况下,将Pt靶的直流溅射功率调至10W,在此条件下溅射345s,沉积5nm的保护层Pt后,将Pt靶灭辉,得到结构为MgO/Pt(4nm)/FePt(20nm)/Cu(5nm)/Fe(10nm)/Pt(5nm)的L10-FePt基多层膜。

3.根据权利要求2所述的L10-FePt基多层膜宽场线性磁电阻传感器的制备方法,其特征在于,所述步骤S3中Pt的溅射速率为0.0145nm/s。

4.根据权利要求2所述的L10-FePt基多层膜宽场线性磁电阻传感器的制备方法,其特征在于,所述步骤S4中Fe的溅射速率为0.0160nm/s,Pt的溅射速率为0.0145nm/s,所以FePt的溅射速率为0.0305nm/s。

5.根据权利要求2所述的L10-FePt基多层膜宽场线性磁电阻传感器的制备方法,其特征在于,所述步骤S5中Cu的溅射速率为0.0399nm/s。

6.根据权利要求2所述的L10-FePt基多层膜宽场线性磁电阻传感器的制备方法,其特征在于,所有膜的沉积都是在Ar气流量为40sccm的条件下进行的。

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