[发明专利]一种二维平面圆环阵列的测向方法有效
申请号: | 201510312312.0 | 申请日: | 2015-06-08 |
公开(公告)号: | CN104931919B | 公开(公告)日: | 2017-06-13 |
发明(设计)人: | 刘聪锋;杨洁;田中成;张斌;张煜;朱燕;李平;王兰美 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | G01S3/00 | 分类号: | G01S3/00 |
代理公司: | 广东朗乾律师事务所44291 | 代理人: | 杨焕军 |
地址: | 710068*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 二维 平面 圆环 阵列 测向 方法 | ||
技术领域
本发明属于阵列测向技术领域,尤其涉及一种可提高二维平面圆环阵列估计精度的测向方法。
背景技术
基于相位差测量和到达时间差测量方法的阵列测向技术广泛应用于雷达、通信,麦克风阵列等电子系统中。平面阵列中的圆环阵由于具有良好的对称性,广泛应用于目标二维角度的阵列测向中。最简单的圆环阵有等距三角阵、矩形阵等。虽然随着阵元数量的增加,阵列测向性能也会得到一定的提升,但是由于受阵列测向模型以及测量参数误差的影响,对于二维角度估计,当目标来波方向接近阵面法线方向时,目标的方位角估计误差较大,而当来波方向接近于阵面方向时,目标的俯仰角估计误差较大。因此,如何提高目标来波方向接近阵面法线方向和平行于阵面方向时的角度估计性能成为测向技术研究的重点和难点。
发明内容
本发明的目的是提供一种可以提高目标的测向精度的二维平面圆环阵列的测向方法。
为了实现上述目的,本发明采取如下的技术解决方案:
一种二维平面圆环阵列的测向方法,阵列接收辐射源目标发出的入射波,所述阵列包括N个阵元,包括以下步骤:
步骤1、计算阵列中每个阵元的方位角,得到阵列的方位角序列θarray=[θ1 … θi… θN],其中,θi为第i个阵元的方位角,i=1,…,N;
步骤2、获取辐射源目标距离阵列中各阵元与参考阵元的距离差矢量;
以第1个阵元作为参考阵元,辐射源目标距离阵列中各阵元与参考阵元的距离差矢量r1=[Δr1,1 … Δri,1 … ΔrN,1],其中Δri,1为辐射源目标到第i个阵元和参考阵元的距离差;
步骤3、依次选择每个阵元作为临时参考阵元,分别对辐射源目标进行方位角和俯仰角预估计:
步骤3-1、选择第i个阵元为临时参考阵元,构造阵列位置差矩阵Pi:
步骤3-2、根据步骤2得到的辐射源目标距离阵列中各阵元与参考阵元的距离差矢量,计算该临时参考阵元的距离差矢量ri:
ri=[Δr1,1 … Δri-1,1 Δri+1,1 … ΔrN,1]T-Δri,1;
步骤3-3、根据临时参考阵元的距离差矢量ri和阵列位置差矩阵Pi计算中间估计参量
步骤3-4、计算以第i个阵元作为临时参考阵元时的目标的方位角预估值和俯仰角预估值
其中,μi,1、μi,2根据得出;
步骤3-5、判断i是否等于N,若否,则令i=i+1,重复步骤3-1至步骤3-4,针对每一个阵元进行角度预估计,从而得到所有阵元作为临时参考阵元时对应的角度预估计值集合:
步骤4、对目标方位角进行精确估计,得到方位角精确估计值
步骤4-1、计算方位角预估值和方位角序列θarray对应阵元的方位角度差:
步骤4-2、对步骤4-1得到的各阵元对应的方位角度差的绝对值进行排序,取角度差绝对值最小值所对应的阵元作为临时参考阵元时目标的方位角预估值作为第一方位角度值
步骤4-3、将第一方位角度值旋转180度,得到
当位于第一象限或第二象限时,
当位于第三象限或第四象限时,
步骤4-4、对进行排序,取前述角度差绝对值最小值所对应的阵元为临时参考阵元时目标的方位角预估值作为第二方位角估计值
步骤4-5、将和的平均值作为目标方位角的精确估计值
步骤5、对目标俯仰角进行精确估计,得到俯仰角精确估计值
步骤5-1、计算与步骤4得到的目标方位角的精确估计值相差90度的第一参考角度值和第二参考角度值
如果位于第一象限,则
如果位于第二象限,则
如果位于第三象限,则
如果位于第四象限,则
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子科技大学,未经西安电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510312312.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。