[发明专利]一种LED外延生长方法有效

专利信息
申请号: 201510315030.6 申请日: 2015-06-10
公开(公告)号: CN105023976B 公开(公告)日: 2017-08-25
发明(设计)人: 张宇;苗振林;卢国军;徐平 申请(专利权)人: 湘能华磊光电股份有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/12;H01L21/02
代理公司: 北京晟睿智杰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)11603 代理人: 于淼
地址: 423038 湖南省郴*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 led 外延 生长 方法
【说明书】:

技术领域

本申请涉及半导体照明技术领域,具体地说,是涉及一种LED外延生长方法。

背景技术

发光二极管简称为LED,由含镓(Ga)、砷(As)、磷(P)、氮(N)等的化合物制成。LED以其长寿命、强抗老化能力、强抗静电能力以及很好的稳定性备受世界关注。而外延层晶体质量在提升LED性能方面又起着至关重要的作用。LED的寿命、抗老化能力、抗静电能力以及稳定性都会随着外延层晶体质量的提升而得到提升。

目前,在国内金属化学气相沉积法MOCVD外延生长技术涵盖LED行业技术的70%左右,如何生长更好的外延片日益受到重视,高质量的外延片需求日益增加,因为外延层晶体质量的提高,LED器件的性能可以等到提升。其中,抗静电能力是产品的一项重要参数,抗静电能力强,产品的良率高、发光效率高,相应地价格也会提高,由此产生的经济效益显著。

金属化学气相沉积法MOCVD,是一种在基板上成长半导体薄膜的方法。原理是在载流气体通过有机金属反应源的容器时,将反应源的饱和蒸气带至反应腔中与其它反应气体混合,然后在被加热的基板上面发生化学反应促成薄膜的成长的方法。

传统的外延技术中在蓝宝石Al2O3基板上生长GaN材料,因为Al2O3材料和GaN材料存在着约13%的晶格失配,带来的影响是GaN材料位错密度高达109根/cm2。目前控制位错密度的主要方法是低温生长一层薄GaN层作缓冲层,然后在此基础上进行GaN的3D生长和2D生长,最后形成比较平整的GaN层,然而该种方法还是会造成器件较弱的抗静电能力。

传统LED结构参见图1,而传统LED结构外延生长流程图见图2所述,具体步骤如下:

步骤201、高温处理蓝宝石衬底11。

在900-1100℃,反应腔压力维持在100-200mbar的条件下,通入50-100L/min的氢气高温处理蓝宝石衬底5-10分钟。

步骤202、生长低温缓冲层GaN12。

降温至500-650℃下,反应腔压力维持在300-600mbar,通入50-90L/min的氢气、40-60L/min的氨气、50-100sccm的TMGa源在蓝宝石衬底上生长厚度为30-60nm的低温缓冲层GaN。

步骤203、生长3D GaN层13。

升高温度到850-1000℃,反应腔压力维持在300-600mbar,通入50-90L/min的氢气、40-60L/min的氨气、200-300sccm的TMGa源持续生长1-2μm的3D GaN层。

步骤204、生长2D GaN层14。

升高温度到1000-1100℃,反应腔压力维持在300-600mbar,通入50-90L/min的氢气、40-60L/min的氨气、300-400sccm的TMGa源持续生长2-3μm的2D GaN层。

步骤205、生长掺杂Si的N型GaN15。

然后保持温度到1000-1100℃,反应腔压力维持在150-300mbar,通入50-90L/min的氢气、40-60L/min的氨气、200-300sccm的TMGa源、20-50sccm的SiH4源,持续生长掺杂Si的N型GaN,Si掺杂浓度5E+18至1E+19,总厚度控制在2-4μm。

步骤206、生长有源层MQW16。

周期性生长有源层MQW:反应腔压力维持在300-400mbar,温度控制在700-750℃,通入50-90L/min的氮气、40-60L/min的氨气、10-50sccm的TMGa源、1000-2000sccm的TMIn源,生长掺杂In的InGaN层161,即3-4nm的InxGa(1-x)N(x=0.15-0.25)层,In掺杂浓度1E+20-3E+20,然后升温800-850℃,通入50-90L/min的氮气、40-60L/min的氨气、10-50sccm的TMGa源,生长10-15nmGaN层162。接着InxGa(1-x)N和GaN按照此方法交替生长,周期数为10-15。

其中,有源层MQW16为LED芯片的发光层。

步骤207、生长P型AlGaN层17。

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