[发明专利]测距仪

说明书

技术领域

本发明涉及光机电一体化领域，具体涉及一种工程测距装置。

背景技术

现在的检查房建的测距仪一般是手握式测距仪，使用方法是以室内地面为基准，测其地面到顶板的垂直距离，或以一个墙面为基准，测其到另一个墙面的水平垂直距离。如果在先选取的基准面不在水平或铅垂方向，上述所得数据也就存在明显的误差。

发明内容

本发明的目的是提供一种测距仪，解决上述现有技术中的一个或者多个。

本发明公开了一种测距仪，包括处理器、测距模块、输入模块、输出模块和水准装置，处理器连接输入模块、输出模块和测距模块，处理器根据输入模块的指令将测距模块的数据经处理后传送至输出模块，测距模块包括向上测距的第一测距装置。

本发明结合测距装置与水准装置，使本发明能够方便地测量铅垂方向的距离，进而可以方便地测量待检测房建的顶板距离以及顶板的平整度，装置简单，结构合理。

在一些实施方式中，还包括容纳上述各模块与装置的外壳和支撑外壳的底盘，外壳可在底盘上同轴旋转运动，底盘设有水平刻度盘，底盘底面中心设有光学对点器；测距模块还包括第二测距装置，第二测距装置测量方向与第一测距装置测量方向垂直；外壳内还设有可转动的第一射线发生器，第一射线发生器的转动平面与第二测距装置测量方向垂直。

本发明还提供了一种可以精准地测量建房内墙面平整度的装置。使用简单，操作方便。

在一些实施方式中，水准装置为设于外壳的水准气泡。保证第一测距装置测距的铅直方向。

在一些实施方式中，外壳内还固定有第二射线发生器，第二射线发生器发光方向与第一测距装置测量方向垂直。可在调整好装置的基础上，辅助工程基准线的测绘。

在一些实施方式中，本发明的测距模块还包括第三测距装置，第三测距装置测距方向与第二测距装置测距方向相反。可同时测量建房内两相对墙面的平整度，进一步减轻了操作人的劳动强度。

在一些实施方式中，处理器还包括存储模块，储存来自测距模块的数据，对本发明测绘的过程数据进行储存。

综上，本发明提供的测距仪可独立测量待测房建的顶板平整度和墙面的平整度，还能配合做工程测绘。并且测量方法简单，操作容易，大大减轻了操作者的劳动强度。

附图说明

图1为本发明一实施方式的测距仪的结构示意图；

图2为图1所示测距仪的后视图；

图3为图1所示测距仪的仰视图；

图4为本发明一实施方式的测距仪测量墙面平整度的操作示意图。

具体实施方式

下面结合说明书附图，对本发明进行进一步详细的说明。

如图1至3所示，本发明提供了一种测距仪，包括外壳6和支撑外壳6的底盘7，外壳6同轴可转动连接底盘7，底盘7设有水平刻度盘71，底盘7底面中心设有光学对点器72。光学对点器72为光学对点器，此外本发明还可以采用垂球对准方式。

外壳6内置有处理器、测距模块、输入模块3、输出模块4和水准装置。处理器连接输入模块3、输出模块4和测距模块，处理器根据输入模块3的指令将测距模块的数据经过处理传送至输出模块4。输入模块3为设于外壳6上的按键，输出模块4包括设于外壳6上的液晶显示器。测距模块包括第一测距装置21、第二测距装置22和第三测距装置23。第一测距装置21测量方向为向上，第二测距装置22测量方向与第一测距装置21测量方向垂直，第三测距装置23测量方向与第二测距装置22测量方向相反。

外壳6内还置有第一射线发生器81与第二射线发生器82。第一射线发生器81的转动平面与第二测距装置22测量方向垂直。第二射线发生器82发光方向与第一测距装置21测量方向垂直，也与第二测距装置22测量方向垂直。

本发明的水准装置为设于外壳6的水准气泡51。另外，底盘7设有微动水准螺旋52和固定水准螺旋53。微动水准螺旋52可调整外壳6在底盘7上的转动角度，当转动角度到达合适的方位时，可旋紧固定水准螺旋53固定转动方位。本发明提供的测距仪的处理器包括存储模块，可对测绘的过程数据进行储存。

本发明提供的测距仪可配合可伸缩三脚架在基准线(工程上一般采用500mm线或者1000mm线为基准线)的帮助下检测待测房建的顶板平整度，其操作包括以下步骤：

1)将待测房建内墙体上标注基准线；

2)选择待测房建内某处架好测距仪与可伸缩三脚架，并调节水准装置使得测距仪至水平方向；