[发明专利]一种能定位的磁环电感测试装置在审
申请号: | 201510328613.2 | 申请日: | 2015-06-15 |
公开(公告)号: | CN104865451A | 公开(公告)日: | 2015-08-26 |
发明(设计)人: | 李玲 | 申请(专利权)人: | 李玲 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 211800 江苏省南京*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 定位 电感 测试 装置 | ||
1.一种能定位的磁环电感测试装置,其特征在于:包括一个多分度回转盘和一套磁环电感测试装置,所述多分度回转盘沿周向均匀设置有若干个大通孔,每个大通孔内固定设置有一个环形的支撑盘,每个支撑盘的内径大于待测磁环的内径,每个支撑盘的外径大于待测磁环的外径,每个支撑盘沿周向均匀设置有一圈小通孔,每个支撑盘的内环中沿周向均设置有若干根定位导向杆;所述磁环电感测试装置包括同轴设置且高度均能够升降的上盖和下盖,其中,上盖位于多分度回转盘其中一个大通孔的正上方,上盖的下表面设置有两圈插针,两圈插针沿同一圆心不同半径的两个圆周方向设置;每个外圈的插针和相邻的内圈的插针通过导线相连接;所述下盖位于多分度回转盘的下方,下盖的上表面设置有两圈接线插孔和一圈定位槽,两圈接线插孔也沿同一圆心不同半径的两个圆周方向设置;每个外圈的接线插孔和相邻的内圈的接线插孔通过导线相连接;当上盖的高度下降和下盖的高度上升后,外圈的插针能从相应的小通孔中穿出,内圈的插针从支撑盘的内环中穿过,并分别与相应的接线插孔相配合;所述定位导向杆的高度与插针的高度相等,当上盖的高度下降和下盖的高度上升后,定位导向杆的底部能与相应的定位槽相配合。
2.根据权利要求1所述的能定位的磁环电感测试装置,其特征在于:所述多分度回转盘为8分度回转盘,所述大通孔有8个。
3.根据权利要求2所述的能定位的磁环电感测试装置,其特征在于:所述多分度回转盘分别与分度器和电机相连接。
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