[发明专利]一种抗LID黑硅太阳能高效电池及其生产方法有效
申请号: | 201510330355.1 | 申请日: | 2015-06-16 |
公开(公告)号: | CN106328736B | 公开(公告)日: | 2018-05-04 |
发明(设计)人: | 姚玉 | 申请(专利权)人: | 镇江大全太阳能有限公司 |
主分类号: | H01L31/042 | 分类号: | H01L31/042;H01L31/0236;H01L31/0216;H01L31/18 |
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地址: | 212211 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 lid 太阳能 高效 电池 及其 生产 方法 | ||
1.一种抗LID黑硅太阳能高效电池,包括正、负电极和铝背场,还包括P型硅片衬底和依次位于P型硅片衬底上的PN结、SiO2氧化膜、SiNx薄膜,所述PN结厚度均匀,所述SiNx薄膜包覆在SiO2氧化膜表面;
所述P型硅片衬底一端平整,另一端呈陷光结构,在其陷光结构端端面为PN结;所述PN结外侧、P型硅片衬底陷光结构端外层为SiO2氧化膜;所述SiNx薄膜一端平整,另一端与所述P型硅片衬底陷光结构端形成吻合设置;
其特征在于:所述陷光结构呈锯齿形状,且所述锯齿形状的相对远离所述P型硅片衬底平整的一端为所述锯齿形状的齿尖部,所述锯齿形状的相对靠近所述P型硅片衬底平整的一端为所述锯齿形状的齿根部,所述SiO2氧化膜设置于所述PN结和所述SiNx薄膜之间,且所述SiO2氧化膜与所述PN结、所述SiO2氧化膜与所述SiNx薄膜在靠近所述齿尖部的位置接触,所述SiO2氧化膜与所述PN结为圆角接触,所述SiO2氧化膜与所述SiNx薄膜为钝角接触。
2.根据权利要求1所述的一种抗LID黑硅太阳能高效电池,其特征在于:所述P型硅片衬底纯度大于99.9999%。
3.根据权利要求1所述的一种抗LID黑硅太阳能高效电池,其特征在于:所述PN结深为0.1~10μm。
4.根据权利要求1所述的一种抗LID黑硅太阳能高效电池,其特征在于:所述SiNx薄膜厚度为50~150nm。
5.一种如权利要求1所述的抗LID黑硅太阳能高效电池的生产方法,其特征在于:包括如下步骤:
(1)高陷光纳米柱的制作,对P型硅片进行RIE法或MCCE法处理制备高陷光纳米柱;
(2)第一次扩散,将硅片置于扩散炉中,在保护气体N2、O2气氛下采用通入磷源工艺进行扩散;
(3)去除边结和磷硅玻璃层;
(4)第二次扩散,在扩散炉中,利用O2作为扩散源,在保护气体N2气氛下进行扩散;
(5)利用PEVCD设备对硅片进行SiNx表面钝化和减反薄膜沉积;
(6)制备电池负电极、正电极和铝背场,完成抗LID黑硅太阳能电池制备。
6.根据权利要求5所述的一种抗LID黑硅太阳能高效电池的生产方法,其特征在于:所述步骤(2)中气体扩散温度为810~860℃。
7.根据权利要求5所述的一种抗LID黑硅太阳能高效电池的生产方法,其特征在于:所述步骤(3)中采用湿法刻蚀工艺去除边结和磷硅玻璃层,依次经过混酸刻蚀槽、背面抛光、稀释的氢氟酸、去离子水清洗处理,其中酸液浓度和碱液浓度保持不变。
8.根据权利要求5所述的一种抗LID黑硅太阳能高效电池的生产方法,其特征在于:所述步骤(4)中气体扩散温度为600~800℃。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的