[发明专利]一种台面晶闸管及其制备方法在审
申请号: | 201510331041.3 | 申请日: | 2015-06-15 |
公开(公告)号: | CN104900692A | 公开(公告)日: | 2015-09-09 |
发明(设计)人: | 何春海 | 申请(专利权)人: | 江苏东晨电子科技有限公司 |
主分类号: | H01L29/74 | 分类号: | H01L29/74;H01L29/06;H01L21/332 |
代理公司: | 南京天华专利代理有限责任公司 32218 | 代理人: | 徐冬涛 |
地址: | 214205 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 台面 晶闸管 及其 制备 方法 | ||
1.一种台面晶闸管,包括芯片、台面槽(1)、基区(2)以及表面氧化层(5),所述基区(2)形成在芯片上,在基区(2)上形成有阳极(7)、阴极(4)和门极(6),所述表面氧化层(5)上形成有引线孔,所述引线孔分别对准所述的阴极(4)和门极(6)并填充有铝电极,其特征在于:台面槽(1)的槽深低于基区(2)的结深,且所述台面槽(1)与基区(2)形成的夹角近直角。
2.根据权利要求1所述的一种台面晶闸管,其特征在于所述芯片为硅片。
3.一种台面晶闸管的制备方法,其特征在于包括以下步骤:
1)在芯片上生长形成氧化层,用光刻技术对氧化层进行第一次光刻腐蚀,称为开一次基区,一次基区背面采用全部扩散;
2)在步骤1)的基础上,用光刻技术对氧化层进行第二次光刻腐蚀,称为开二次阴极区;
3)在步骤2)的基础上,用光刻技术对氧化层进行第三次光刻腐蚀,称为开台面槽,通过台面腐蚀的方法形成台面槽,所述台面槽的槽深低于基区的结深,且台面槽与基区形成近直角的夹角。
4.根据权利要求3所述的一种台面晶闸管的制备方法,其特征在于步骤1)中,一次基区背面进行全部扩散时,扩散采用离子注入方法。
5.根据权利要求3所述的一种台面晶闸管的制备方法,其特征在于基区结深为45微米,台面槽的槽深为5~10微米。
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