[发明专利]一种多晶少子寿命检测后划线量具

说明书

(一)技术领域

本发明涉及一种多晶少子寿命检测后划线量具。

(二)背景技术

太阳能多晶硅铸锭是一种柱状晶体，晶体的生长方向垂直向上，热流方向垂直向下，通过定向凝固过程来实现，即在结晶的过程中，通过控制热场变化，形成单方向的热流，并要求固-液态界面处温度梯度大于0，而横向的平面无温度梯度，从而形成了定向凝固的柱状晶体。硅锭边皮是利用开方机切除，而硅锭头尾不合格部分则依据少子寿命检测截除，将硅锭从坩埚内取出后开方，开方后将硅锭开成5*5共25块尺寸为156*156的硅块，开方后的硅块需检测少子寿命，根据少子寿命测试结果截除头尾不合格部分。因此，需要将25块头尾不可用的部分均切除掉。现有操作一般是取开方后每颗硅锭测试A区(9块)/B区(12块)/C(4块)区各一块，根据该块测试结果标记头尾不合格区域并划线截除，同区域内的其他硅块去头尾划线按照测试块来决定，同区域的其它硅块要根据测试块的去除高度去除，然后用直尺量测去头尾长度，后根据去除高度再在同区域的其他硅块头尾做标记划线，再依次截除。这一方法工作量大，操作费时费力，大大降低了工作效率。

(三)发明内容

本发明为了弥补现有技术的不足，提供了一种结构合理、方便实用、操作简单、省时省力、划线精确、工作量小且能够提高工作效率的多晶少子寿命检测后划线量具，解决了现有技术中存在的问题。

本发明是通过如下技术方案实现的：

一种多晶少子寿命检测后划线量具，包括一木质底座，在木质底座的前端连接一与木质底座贴合设置的刻度尺，在与刻度尺上、下两端相对应的木质底座前部的一侧分别设有一凹槽，在凹槽内分别上下滑动设有一直角尺；在木质底座后部对应各直角尺底边的上下两端分别设有一用于固定直角尺的第一紧固螺钉。

在刻度尺的四角处分别设有一第二紧固螺钉，所述刻度尺与木质底座前端通过第二紧固螺钉固定连接。

所述刻度尺与木质底座前端通过粘结剂粘接固连。

本发明的有益效果是：该多晶少子寿命检测后划线量具，结构合理，方便实用，操作简单，在划线过程中划线精确度高，截取同区域隔硅块的头尾尺寸一致均匀，大大节省了重复量取各区域测试硅块头尾高度并不断在其他硅块上标记划线并截取的工作量，结果稳定可靠，保证了硅块质量。在整个划线过程中对操作工人要求低，省时省力，大大提高了划线的工作效率。通过木质底座前端的刻度尺设置以及木质底座前部上下两端的凹槽及上下滑动设置在凹槽内的直角尺设计，保证了硅块测试块头尾快速划线的同时清楚的量取了去除高度，由于直角尺位置可通过第一紧固螺钉固定，使同区域其他硅块均使用经测试块划线后的多晶少子寿命检测后划线量具状态，无需再次调节，非常方便，大大减少了工作量，提高了工作效率。

(四)附图说明

下面结合附图对本发明作进一步的说明。

图1为实施例1的结构示意图；

图2为图1俯视结构示意图；

图3为图1后视结构示意图；

图4为实施例2的结构示意图；

图5为图4俯视结构示意图。

图中，1木质底座，2刻度尺，3凹槽，4直角尺，5第一紧固螺钉，6第二紧固螺钉，7粘结剂。

(五)具体实施方式

为能清楚说明本方案的技术特点，下面通过具体实施方式，并结合其附图，对本发明进行详细阐述。

实施例1

如附图1-3所示，该多晶少子寿命检测后划线量具包括一木质底座1，在木质底座1的前端连接一与木质底座1贴合设置的刻度尺2，在与刻度尺2上、下两端相对应的木质底座1前部的一侧分别设有一凹槽3，在凹槽3内分别上下滑动设有一直角尺4；在木质底座1后部对应各直角尺4底边的上下两端分别设有一穿设至凹槽内的固定直角尺4的第一紧固螺钉5。

在刻度尺2的四角处分别设有一第二紧固螺钉6，所述刻度尺2与木质底座1前端通过第二紧固螺钉5固定连接。

实施例2

如附图4-5所示，为本发明的另一实施例，该晶少子寿命检测后划线量具与实施例1所不同的是，所述刻度尺2的后面与木质底座1前端通过粘结剂7粘接固连。