[发明专利]一种不依靠测温系统快速发现渗碳温度场变化的方法

权利要求书

1.一种不依靠测温系统快速发现渗碳温度场变化的方法，其特征是，方法如下：

步骤1：按常规工艺要求的缓冷条件下制备中间试样，所述中间试样与渗碳工件保持同牌号；

步骤2：检测中间试样，根据中间试样牌号所对应的浸蚀介质对中间试样观测面进行正常浸蚀，观测渗层组织；

步骤3：完成中间试样的常规渗层组织检测的同时，加测中间试样过渡层组织形态；

步骤4：判断过热：根据晶界表现出的先共析铁素体形貌进行判断，判断原则为：a.混晶：晶粒度明显表现出大小不一；b.魏氏体特征及其晶粒内形貌：晶界铁素体粗大、线条刚直且边缘和相交处有犬牙状或锯齿状突起，该突起会延伸到晶粒内部。

2.根据权利要求1所述的一种不依靠测温系统快速发现渗碳温度场变化的方法，其特征是，所述步骤1中缓冷条件为在900℃或更高温度下随炉冷却、或不大于空气冷却的冷速冷却到200℃以下至室温。

3.根据权利要求1所述的一种不依靠测温系统快速发现渗碳温度场变化的方法，其特征是，所述步骤1中的中间试样为在渗碳全过程完成之前、在渗碳周期中间取得的试样。

4.根据权利要求1所述的一种不依靠测温系统快速发现渗碳温度场变化的方法，其特征是，所述步骤2中检测中间试样方法为粗磨-细磨-抛光。

5.根据权利要求1所述的一种不依靠测温系统快速发现渗碳温度场变化的方法，其特征是，所述步骤2中浸蚀介质为4%硝酸酒精。

6.根据权利要求1所述的一种不依靠测温系统快速发现渗碳温度场变化的方法，其特征是，所述步骤2中的浸蚀时间为8～15s。

7.根据权利要求1所述的一种不依靠测温系统快速发现渗碳温度场变化的方法，其特征是，所述步骤3中常规渗层组织检测的方法是：采用金相法，用显微镜检测，从渗层表层测至50%珠光体作为渗碳层总深度，视为渗层深度。

8.根据权利要求1所述的一种不依靠测温系统快速发现渗碳温度场变化的方法，其特征是，所述步骤3中过渡层为50%珠光体处组织。