[发明专利]一种解相位干涉仪测向模糊的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201510354215.8 申请日: 2015-06-23
公开(公告)号: CN104991225B 公开(公告)日: 2017-12-22
发明(设计)人: 尤明懿;陆安南 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第三十六研究所
主分类号: G01S3/12 分类号: G01S3/12
代理公司: 北京市隆安律师事务所11323 代理人: 权鲜枝,吴昊
地址: 314033 *** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 相位 干涉仪 测向 模糊 方法 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及测向技术领域,特别涉及一种解相位干涉仪测向模糊的方法和装置。

背景技术

干涉仪测相位差测向体制普遍应用于低轨无源测向系统,是一种重要的测向体制。由于卫星平台限制和噪声影响,测向系统存在相位差模糊、测向模糊(多个方向无法唯一选择)和错误解模糊(错误选择了一个方向)问题。

当前关于相位差干涉仪解模糊的研究主要集中于解逆三角函数多解性导致的长基线干涉仪测向模糊的问题。某些情况下,采信错误解测向模糊的结果带来的损失远较放弃正确解测向模糊结果的损失大。而关于判断解测向模糊是否正确方面的研究几乎没有。

发明内容

本发明提供了一种解相位干涉仪测向模糊的方法和装置,以避免采信错误解测向模糊的结果导致的损失的问题。

为达到上述目的,本发明的技术方案是这样实现的:

一方面,本发明实施例提供了一种解相位干涉仪测向模糊的方法,所述方法包括:

对每次测量的L条基线的相位差,采用最小相位误差测向算法获得M个相位误差的极大值以及每个极大值的对应位置m=1,...,M,其中L和M均为正整数;

降序排序所述M个相位误差的极大值;

获取每个极大值的对应位置ηm的相位差的拟合误差,计算所述拟合误差的均值和方差;

根据所述拟合误差的均值和方差对所述M个相位误差的极大值进行检验,保留符合检验条件的极大值,剔除不符合检验条件的极大值;

判断检验后的符合检验条件的极大值,当满足检验条件的极大值仅为一个,且该极大值为所述最大值时,判定该极大值的对应位置为所述相位干涉仪该次测量的测向结果,否则判定该次测量无法解模糊。

优选地,所述根据所述拟合误差的均值和方差对所述M个相位误差的极大值进行检验,保留符合检验条件的极大值,剔除不符合检验条件的极大值包括:

根据所述拟合误差的均值和方差建立所述相位干涉仪该次测量的t分布和F分布设定所述t分布的显著性水平α和所述F分布的显著性水平β;其中,0<α<1,0<β<1,m=2,...,M,和分别为所述最大值的对应位置η1的相位差的拟合误差的均值和方差,和分别为所述位置ηm的相位差的拟合误差的均值和方差;

比较t分布中ηm对应的t值与临界值tα的大小,剔除所述ηm中t值大于临界值tα对应的极大值,并判断是否除最大值外的其他M-1个极大值均被剔除,若其他M-1个极大值均被剔除则结束t检验;否则,进一步进行F检验,比较F分布中未被t检验剔除的ηm对应的F值与临界值F(β)的大小,剔除所述ηm中F值大于临界值F(β)对应的极大值,结束F检验。

优选地,所述根据所述拟合误差的均值和方差对所述M个相位误差的极大值进行检验,保留符合检验条件的极大值,剔除不符合检验条件的极大值包括:

根据所述拟合误差的均值和方差建立所述相位干涉仪该次测量的t分布和F分布并设定所述t分布的显著性水平α和所述F分布的显著性水平β;其中,0<α<1,0<β<1,m=2,...,M,和分别为所述最大值的对应位置η1的相位差的拟合误差的均值和方差,和分别为所述位置ηm的相位差的拟合误差的均值和方差;

比较F分布中ηm对应的F值与临界值F(β)的大小,剔除所述ηm中F值大于临界值F(β)对应的极大值,并判断是否除最大值外的其他M-1个极大值均被剔除,若其他M-1个极大值均被剔除则结束F检验;否则,进一步进行t检验,比较t分布中未被F检验剔除的ηm对应的t值与临界值tα的大小,剔除所述ηm中t值大于临界值tα对应的极大值,结束t检验。

优选地,所述根据所述拟合误差的均值和方差对所述M个相位误差的极大值进行检验,保留符合检验条件的极大值,剔除不符合检验条件的极大值包括:

获取所述M个相位误差的极大值中的最大值和次最大值以及所述最大值的对应位置η1和所述次最大值的对应位置η2

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