[发明专利]α‑Al2O3单晶表面SiO2掩膜的制作方法有效

专利信息
申请号: 201510354321.6 申请日: 2015-06-24
公开(公告)号: CN104992900B 公开(公告)日: 2018-01-30
发明(设计)人: 申健;张丹;庞春玲;张飞虎;甘阳 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: H01L21/033 分类号: H01L21/033;H01L33/20
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所23109 代理人: 侯静
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: al sub 表面 sio 制作方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种单晶表面SiO2掩膜的制作方法。

背景技术

α-Al2O3是氧化铝的最普遍结构晶型,α-Al2O3单晶又叫刚玉,蓝宝石,红宝石。α-Al2O3单晶拥有许多独特的物理化学性能,是一种重要的电子、陶瓷、催化用氧化物材料,在这些应用中,蓝宝石作为制备GaN基薄膜外延生长所需的衬底材料,生长在普通蓝宝石衬底上的GaN,大量位错缺陷从底部向上传播。生长在沟槽型蓝宝石衬底(深度1μm)上的GaN,GaN层在蓝宝石衬底顶部进行侧向生长,在图形侧壁上两个生长前沿边界合并时形成了一些空洞。GaN在PSS上的异质结构的侧向生长区域位错弯曲了90°,位错没有传播到GaN层的表面,从而增强GaN基发光二极管(LED)的发光性能。

α-Al2O3单晶的图形化衬底制作方法主要分为干法刻蚀和湿法刻蚀,目前湿法刻蚀成本较低,但需要在α-Al2O3单晶表面做二氧化硅掩膜,SiO2掩膜覆盖部分的α-Al2O3单晶受到保护,不被刻蚀。未覆盖SiO2掩膜覆盖部分被高温强酸刻蚀,从而在α-Al2O3单晶表面生成图形。

但是光刻工艺制备SiO2掩膜步骤复杂,成本高,导致现有α-Al2O3单晶表面SiO2掩膜难以、在α-Al2O3上制备的问题。

发明内容

本发明的目的是要解决光刻工艺制备SiO2掩膜步骤复杂,成本高,导致现有α-Al2O3单晶表面SiO2掩膜难以在α-Al2O3上制备的问题,本发明提供了一种α-Al2O3单晶表面SiO2掩膜的制作方法。

本发明的α-Al2O3单晶表面SiO2掩膜的制作方法是通过以下步骤实现的:

一、预处理:

在室温下,将α-Al2O3单晶置于乙醇中浸泡12h,然后用去离子水冲洗α-Al2O3单晶,再氮气吹干;

在室温下,将SiO2球加入到无水乙醇中,超声分散10min;

二、将经过步骤一处理的α-Al2O3单晶置于刚玉坩埚中,并将分散了SiO2球的无水乙醇滴加于α-Al2O3单晶表面,至分散了SiO2球的无水乙醇铺满α-Al2O3单晶的表面;

三、将经步骤二处理后的α-Al2O3单晶置于室温下5min,然后放置于管式炉中,设置管式炉温度由20℃经200min升温到1000℃,并恒温20min,再由1000℃经80min升温到1300℃~1450℃,恒温1h~2h,最后由1300℃~1450℃经800min降温至20℃,完成α-Al2O3单晶表面SiO2掩膜的制作。

本发明的步骤一中所述SiO2球直径为5微米。

本发明的步骤一中使用的无水乙醇为市售产品。

本发明的α-Al2O3单晶表面SiO2掩膜的制作方法是一种简单的微米级、纳米级SiO2掩膜制备方法,能简单地在α-Al2O3单晶表面制备SiO2掩膜,且可得到微米级六边形SiO2掩膜和纳米级半球形SiO2掩膜,该制备方法重复性好。制备的SiO2掩膜设备简单,操作方便,易于掌握,过程安全、无污染。

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