[发明专利]粒子检测装置及粒子检测方法

权利要求书

1.一种粒子检测装置，其特征在于，具有：

光测定器，测定被测定粒子上所产生的各自波长不同的第1光的强度的测定值、第2光的强度的测定值及第3光的强度的测定值；

第1边界信息保存部，其保存第1边界信息，所述第1边界信息在所述第1光的强度及所述第2光的强度的二维表中，将第1类粒子和第2类粒子的识别边界中的所述第3光的强度记录于第1范围内；

第2边界信息保存部，其保存第2边界信息，所述第2边界信息在所述二维表中，将所述识别边界中的所述第3光的强度记录于第2范围内；

识别信息保存部，其保存识别信息，所述识别信息在所述二维表的所述识别边界所包围的单元格内记录有所述第1类粒子的标识符、在所述识别边界未包围的单元格内记录有所述第2类粒子的标识符；

信息取得部，根据所述第1光的强度的测定值及所述第2光的强度的测定值，从所述识别信息中获取所述第1类粒子或所述第2类粒子的标识符，并从所述第1边界信息及所述第2边界信息中，获取所述识别边界中的所述第3光的强度的第1边界值及第2边界值；和

粒子判定部，当获取到所述第1类粒子的标识符、且所述第3光的强度的测定值在所述第1边界值及所述第2边界值之间时，判断所述被测定粒子为所述第1类粒子；在获取到所述第1类粒子的标识符、且所述第3光的强度的测定值不在所述第1边界值及所述第2边界值之间，或者获取到所述第2类粒子的标识符时，判断所述被测定粒子为所述第2类粒子。

2.根据权利要求1所述的粒子检测装置，其特征在于，

所述第1光及所述第2光为荧光波段的光，所述第3光为散射光。

3.根据权利要求1或2所述的粒子检测装置，其特征在于，

所述第1类粒子为生物粒子，所述第2类粒子为非生物粒子。

4.根据权利要求1或2所述的粒子检测装置，其特征在于，

所述第1类粒子为非生物粒子，所述第2类粒子为生物粒子。

5.根据权利要求1所述的粒子检测装置，其特征在于，

所述第1边界信息及所述第2边界信息是用灰阶表示所述第3光的强度的图像。

6.根据权利要求5所述的粒子检测装置，其特征在于，

所述第1边界信息及所述第2边界信息为灰度等级图像。

7.根据权利要求5或6所述的粒子检测装置，其特征在于，

将所述第3光的强度的测定值转换为所述灰阶中的灰阶值。

8.一种粒子检测方法，其特征在于，包含以下步骤：

测定被测定粒子上所产生的各自波长不同的第1光的强度的测定值、第2光的强度的测定值及第3光的强度的测定值；

准备第1边界信息，所述第1边界信息在所述第1光的强度及所述第2光的强度的二维表中，将第1类粒子和第2类粒子的识别边界中的所述第3光的强度记录于第1范围内；

准备第2边界信息，所述第2边界信息在所述二维表中，将所述识别边界中的所述第3光的强度记录于第2范围内；

准备识别信息，所述识别信息在所述二维表的所述识别边界所包围的单元格内记录有所述第1类粒子的标识符、在所述识别边界未包围的单元格内记录有所述第2类粒子的标识符；

根据所述第1光的强度的测定值及所述第2光的强度的测定值，从所述识别信息中获取所述第1类粒子或所述第2类粒子的标识符，并从所述第1边界信息及所述第2边界信息中获取所述识别边界中的所述第3光的强度的第1边界值及第2边界值；

当获取到所述第1类粒子的标识符、且所述第3光的强度的测定值在所述第1边界值及所述第2边界值之间时，判断所述被测定粒子为所述第1类粒子；在获取到所述第1类粒子的标识符、且所述第3光的强度的测定值不在所述第1边界值及所述第2边界值之间，或者获取到所述第2类粒子的标识符时，判断所述被测定粒子为所述第2类粒子。

9.根据权利要求8所述的粒子检测方法，其特征在于，

所述第1光及所述第2光为荧光波段的光，所述第3光为散射光。

10.根据权利要求8或9所述的粒子检测方法，其特征在于，

所述第1类粒子为生物粒子，所述第2类粒子为非生物粒子。

11.根据权利要求8或9所述的粒子检测方法，其特征在于，

所述第1类粒子为非生物粒子，所述第2类粒子为生物粒子。