[发明专利]一种电子整机加速贮存试验方法

说明书

技术领域

本发明属于可靠性及寿命试验中的加速贮存试验方法领域，具体涉及一种电子整机加速贮存试验方法。

背景技术

电子产品是工业领域中的重要组成部分，车辆、铁路、信息系统、航空航天领域要用到大量的电子产品。随着使用方对产品寿命和质量要求的逐步提高，各领域均对电子产品提出了贮存寿命指标要求，不同产品要求不同，最短的有8年，最长提出了20年贮存寿命要求。需要开展加速贮存试验，以在设计研制阶段较早的摸清产品贮存性能指标变化规律，验证产品贮存寿命是否满足规定贮存寿命要求，同时激发产品贮存薄弱环节，最终在设计上采取改进措施。

俄罗斯广泛采用加速贮存试验来确定电子整机的寿命，建立了许多整机的加速贮存试验标准，覆盖变压器、配电与调制器、集成电路等电子产品。用6个月的加速试验，即可获得贮存寿命10年的结论。俄罗斯的加速贮存试验方案，实际上是创造一种环境，产品在这种环境下贮存6个月，就相当于自然贮存10年。若在这种环境条件下贮存6个月没发生故障，就相当于在自然贮存条件下10年不发生故障。若发生了故障则要找出故障原因，采取纠正措施，并在同样的环境条件下证实措施有效。之后按应采取的措施改进设计或改进工艺。

美国在电子产品贮存试验方面以自然贮存试验为主，加速贮存试验为辅，对贮存试验产品的监测手段先进。一般是对产品进行三个层次的贮存，即薄弱环节产品贮存，较低层次产品贮存和整机的贮存。这三个层次的产品都要做贮存试验，但更强调对薄弱环节产品的贮存，因为薄弱环节的贮存期往往决定了系统级产品的贮存期。

在电子产品加速贮存试验方面，国内从80年代开始开展了部分产品加速贮存试验方法研究，但部组件、整机级产品的加速贮存试验研究还主要集中了理论层面，目前还没有形成有效的电子整机加速贮存试验方法。因此，需要提供一种电子整机产品的加速贮存寿命验证试验方法，以验证产品贮存寿命。

发明内容

本发明的目的在于针对现有技术缺乏整机产品加速贮存试验方法的问题，提供一种电子整机加速贮存试验方法。

实现本发明目的的技术方案：

一种电子整机加速贮存试验方法，依次包括如下步骤，

步骤1.接装运输阶段

电子产品的接装运输阶段包括铁路运输振动试验阶段和公路运输振动试验阶段，将待测产品放置在包装箱中，然后将包装箱固定在电磁振动台上，

步骤1.1铁路运输振动试验阶段

设定电磁振动台的频率范围为30～80Hz，功率谱密度0.004g²/Hz；80～350Hz，功率谱密度变化斜率为-8.54dB/oct；铁路运输振动试验时间计算公式为：

式中：T_t为铁路运输振动试验时间，N_t为铁路运输总里程，V_t为火车速度；

步骤1.2公路运输振动试验阶段

设定电磁振动台的频率范围为5～40Hz，功率谱密度0.015g²/Hz；和40～500Hz，功率谱密度0.015g2/Hz，功率谱密度变化斜率为-3dB/oct；公路运输振动试验时间计算公式为：

式中：T_g为公路运输振动试验时间，N_g为公路运输总里程；

步骤2.库房贮存阶段

将包装箱内的待测产品从电磁振动台上取下，将产品从包装箱内取出放置在高低温试验箱中，进行库房贮存阶段试验，依次包括低温试验阶段和高温试验阶段；

步骤2.1低温试验阶段

对于需要裸露放置于库房中待测产品，将高低温试验箱中温度设置为-30℃，作用时间为24h；对于需要放置在包装箱内再放置与库房中的待测产品，将高低温试验箱中温度设置为-10℃，作用时间为24h；

步骤2.2高温试验阶段

当待测产品为不含液体钽电解电容的电子产品时，将高低温试验箱中的温度设置为不超过90℃；当待测产品为含液体钽电解电容的电子产品时，将高低温试验箱中的温度设置为不超过90℃；设置温度应不低于60℃；高温加速贮存试验时间为模拟存储的时间除以高温加速因子；

步骤3.野外工作阶段

将待测产品由高低温环境试验箱转入综合环境试验箱，

步骤3.1温度应力

设置综合环境试验箱的温度为低温-30℃，保持时间为5h；然后提高综合环境试验箱的温度至高温50℃，保持时间为5h；

步骤3.2湿度应力