[发明专利]取样相位差的补偿装置、取样相位差的补偿方法以及可补偿取样相位差的通讯装置在审
| 申请号： | 201510361886.7 | 申请日： | 2015-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN106302272A | 公开（公告）日： | 2017-01-04 |
| 发明（设计）人： | 刘柏宏;杨子颐;蔡腾汉;童泰来 | 申请（专利权）人： | 晨星半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | H04L25/02 | 分类号： | H04L25/02;H04L25/03;H04L27/26 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司31100 | 代理人： | 徐伟 |
| 地址： | 中国台湾新竹 *** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 取样 相位差 补偿 装置 方法 以及 通讯 | ||
【说明书】：
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于晨星半导体股份有限公司，未经晨星半导体股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510361886.7/2.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
