[发明专利]利用扰码器旁通的编码器有效
申请号: | 201510365017.1 | 申请日: | 2015-06-26 |
公开(公告)号: | CN105302740B | 公开(公告)日: | 2018-08-14 |
发明(设计)人: | 张帆;王充力;春·霍克·霍 | 申请(专利权)人: | 爱思开海力士有限公司 |
主分类号: | G06F12/06 | 分类号: | G06F12/06;G06F3/06 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 俞波;许伟群 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 利用 扰码器 旁通 编码器 | ||
1.一种储存系统,包括:
储存接口,被配置为:
读取储存设备中的第一物理位置以获得读取数据;以及
在所述储存设备的第二物理位置储存迁移数据;
错误校正译码器,被配置为:对所述读取数据执行错误校正译码以获得错误校正数据,其中所述错误校正数据包括第一错误校正元数据;
错误校正编码器,被配置为:
对(1)结合有第二随机序列的第一随机序列执行错误校正编码,所述第二随机序列与(2)第二元数据级联;以及
对与所述第一错误校正元数据级联的零的序列执行错误校正编码以获得第二编码数据;以及
加法器,被配置为对(1)所述错误校正数据、(2)第一编码数据和(3)所述第二编码数据求和以获得所述迁移数据。
2.如权利要求1所述的储存系统,其中所述系统包括半导体器件,其包括下列中的一个或更多个:专用集成电路ASIC或现场可编程门阵列FPGA。
3.如权利要求1所述的储存系统,其中在对所述读取数据执行错误校正译码的同时,对(1)结合有所述第二随机序列的所述第一随机序列执行错误校正编码,所述第二随机序列与(2)所述第二元数据级联。
4.如权利要求1所述的储存系统,其中所述储存设备包括固态储存设备。
5.如权利要求1所述的储存系统,其中所述错误校正编码器和所述错误校正译码器被配置为使用下列码中的一个或更多个:BCH码或低密度奇偶校验LDPC码。
6.一种储存系统的操作方法,包括:
在储存设备中读取第一物理位置以获得读取数据;
使用错误校正译码器对所述读取数据执行错误校正译码以获得错误校正数据,其中所述错误校正数据包括第一错误校正元数据;
使用错误校正译码器来:
对(1)结合有第二随机序列的第一随机序列执行错误校正编码,所述第二随机序列与(2)第二元数据级联;以及
对与所述第一错误校正元数据级联的零的序列执行错误校正编码以获得第二编码数据;
对(1)所述错误校正数据、(2)第一编码数据和(3)所述第二编码数据求和以获得迁移数据;以及
在所述储存设备的第二物理位置储存所述迁移数据。
7.如权利要求6所述的方法,其中所述方法由半导体器件来执行,所述半导体器件包括下列中的一个或更多个:专用集成电路ASIC或现场可编程门阵列FPGA。
8.如权利要求6所述的方法,其中在对所述读取数据执行错误校正译码的同时,对(1)结合有所述第二随机序列的所述第一随机序列执行错误校正编码,所述第二随机序列与(2)所述第二元数据级联。
9.如权利要求6所述的方法,其中所述储存设备包括固态储存设备。
10.如权利要求6所述的方法,其中执行错误校正编码和执行错误校正译码包括使用下列码中的一个或更多个:BCH码或低密度奇偶效验LDPC码。
11.一种计算机可读储存介质,所述计算机可读储存介质实现为非暂时性计算机可读储存介质并且包括计算机指令,所述计算机指令用于:
在储存设备中读取第一物理位置以获得读取数据;
对所述读取数据执行错误校正译码以获得错误校正数据,其中所述错误校正数据包括第一错误校正元数据;
对(1)结合有第二随机序列的第一随机序列执行错误校正编码,所述第二随机序列与(2)第二元数据级联;
对与所述第一错误校正元数据级联的零的序列执行错误校正编码以获得第二编码数据;
对(1)所述错误校正数据、(2)第一编码数据和(3)所述第二编码数据求和以获得迁移数据;以及
在所述储存设备的第二物理位置储存所述迁移数据。
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