[发明专利]AMOLED显示器件的制作方法及其结构在审

专利信息
申请号: 201510366825.X 申请日: 2015-06-26
公开(公告)号: CN104952791A 公开(公告)日: 2015-09-30
发明(设计)人: 徐向阳 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: H01L21/77 分类号: H01L21/77;H01L27/32
代理公司: 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 代理人: 林才桂
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: amoled 显示 器件 制作方法 及其 结构
【说明书】:

技术领域

发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种AMOLED显示器件的制作方法及其结构。

背景技术

有机发光二极管(Organic Light Emitting Display,OLED)显示器件具有自发光、驱动电压低、发光效率高、响应时间短、清晰度与对比度高、近180°视角、使用温度范围宽,可实现柔性显示与大面积全色显示等诸多优点,被业界公认为是最有发展潜力的显示装置。

OLED显示器件按照驱动方式可以分为无源矩阵型OLED(Passive Matrix OLED,PMOLED)和有源矩阵型OLED(Active Matrix OLED,AMOLED)两大类。其中,AMOLED具有呈阵列式排布的像素,属于主动显示类型,发光效能高,通常用作高清晰度的大尺寸显示装置。

主动有机发光显示器(AMOLED)是一种利用直流电压驱动的薄膜发光器件,AMOLED显示技术与传统的LCD显示方式不同,无需背光灯,采用非常薄的有机材料涂层和玻璃基板,当有电流通过时,这些有机材料就会发光,而且AMOLED显示器件可以做得更轻薄,可视角度更大,并且能够显著节省电能。

如图1所示,现有的AMOLED显示器件通常自下而上依次设置:玻璃基板100、薄膜晶体管(TFT)阵列层200、像素电极层即阳极层300、有机发光层400、阴极层500、及封装盖板600。其中,TFT阵列层200内的栅极、数据线、与源/漏极均为金属层,金属的反光能力较强,而且分别设于有机发光层400上、下两侧的阳极层300与阴极层500一般都采用反光或半反光材料,同时,AMOLED显示器件内与有机发光层400相对的区域均为开口区域,使得外部环境光可以进入AMOLED显示器件并发生强烈的反射,影响AMOLED显示器件的显示效果。目前,解决AMOLED显示器件光反射的方法通常采用在玻璃基板100或封装盖板600上贴合一片圆偏光片,如图1示意出了将原偏光片700贴合在玻璃基板100下表面,利用圆偏光片700起到防反作用。但贴合圆偏光片带来的负面影响是:OLED显示器件的显示亮度降低明显,为实现OLED显示器件与贴片前有同等的显示亮度,则功耗会相应增加,功耗的增加又会带来AMOLED显示器件寿命的大幅缩短,整个AMOLED显示器件的厚度也增加了约160μm甚至更多,另外,增加圆偏光片也会拉高AMOLED显示器件的制作成本。

发明内容

本发明的目的在于提供一种AMOLED显示器件的制作方法,能够在不增加圆偏光片的前提下,使得AMOLED显示器件具有良好的防止外部环境光反射的作用,提高AMOLED显示器件的显示亮度,延长AMOLED显示器件的使用寿命,降低AMOLED显示器件的厚度和制作成本。

本发明的目的还在于提供一种MOLED显示器件结构,具有良好的防止外部环境光反射的作用,具有较高的显示亮度与使用寿命,厚度较小、制作成本较低。

为实现上述目的,本发明提供了一种AMOLED显示器件的制作方法,包括:

在制作栅极之前沉积一层无机膜,并对该无机膜进行等离子轰击处理,使其表面粗糙化,形成栅极防反层的步骤;

以及在制作源/漏极与数据线之前沉积一层无机膜,并对该无机膜进行等离子轰击处理,使其表面粗糙化,形成蚀刻阻挡与源/漏极防反层的步骤。

所述AMOLED显示器件的制作方法包括如下步骤:

步骤1、提供一基板,在所述基板上沉积一层无机膜,并对该无机膜进行等离子轰击处理,使其表面粗糙化,形成栅极防反层;

步骤2、在所述栅极防反层上沉积第一金属层,并对该第一金属层进行图案化处理,形成栅极;

步骤3、在所述栅极及栅极防反层上沉积栅极绝缘层;

步骤4、在所述栅极绝缘层上沉积半导体膜,并对该半导体膜进行图案化处理,形成岛状有源层;

步骤5、在所述岛状有源层与栅极绝缘层上沉积一层无机膜,并对该无机膜进行等离子轰击处理,使其表面粗糙化,形成蚀刻阻挡与源/漏极防反层,再对所述蚀刻阻挡与源/漏极防反层进行图案化处理,制得分别暴露出所述岛状有源层两侧的第一过孔与第二过孔;

步骤6、在所述蚀刻阻挡与源/漏极防反层上沉积第二金属层,并对该第二金属层进行图案化处理,形成源/漏极与数据线,所述源/漏极分别通过第一过孔与第二过孔接触所述岛状有源层;

步骤7、在所述源/漏极、数据线及蚀刻阻挡与源/漏极防反层上沉积钝化保护膜,并对该钝化保护膜进行图案化处理,形成暴露出部分源/漏极的第三过孔;

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