[发明专利]AMOLED显示器件的制作方法及其结构在审
申请号: | 201510366825.X | 申请日: | 2015-06-26 |
公开(公告)号: | CN104952791A | 公开(公告)日: | 2015-09-30 |
发明(设计)人: | 徐向阳 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77;H01L27/32 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人: | 林才桂 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | amoled 显示 器件 制作方法 及其 结构 | ||
技术领域
本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种AMOLED显示器件的制作方法及其结构。
背景技术
有机发光二极管(Organic Light Emitting Display,OLED)显示器件具有自发光、驱动电压低、发光效率高、响应时间短、清晰度与对比度高、近180°视角、使用温度范围宽,可实现柔性显示与大面积全色显示等诸多优点,被业界公认为是最有发展潜力的显示装置。
OLED显示器件按照驱动方式可以分为无源矩阵型OLED(Passive Matrix OLED,PMOLED)和有源矩阵型OLED(Active Matrix OLED,AMOLED)两大类。其中,AMOLED具有呈阵列式排布的像素,属于主动显示类型,发光效能高,通常用作高清晰度的大尺寸显示装置。
主动有机发光显示器(AMOLED)是一种利用直流电压驱动的薄膜发光器件,AMOLED显示技术与传统的LCD显示方式不同,无需背光灯,采用非常薄的有机材料涂层和玻璃基板,当有电流通过时,这些有机材料就会发光,而且AMOLED显示器件可以做得更轻薄,可视角度更大,并且能够显著节省电能。
如图1所示,现有的AMOLED显示器件通常自下而上依次设置:玻璃基板100、薄膜晶体管(TFT)阵列层200、像素电极层即阳极层300、有机发光层400、阴极层500、及封装盖板600。其中,TFT阵列层200内的栅极、数据线、与源/漏极均为金属层,金属的反光能力较强,而且分别设于有机发光层400上、下两侧的阳极层300与阴极层500一般都采用反光或半反光材料,同时,AMOLED显示器件内与有机发光层400相对的区域均为开口区域,使得外部环境光可以进入AMOLED显示器件并发生强烈的反射,影响AMOLED显示器件的显示效果。目前,解决AMOLED显示器件光反射的方法通常采用在玻璃基板100或封装盖板600上贴合一片圆偏光片,如图1示意出了将原偏光片700贴合在玻璃基板100下表面,利用圆偏光片700起到防反作用。但贴合圆偏光片带来的负面影响是:OLED显示器件的显示亮度降低明显,为实现OLED显示器件与贴片前有同等的显示亮度,则功耗会相应增加,功耗的增加又会带来AMOLED显示器件寿命的大幅缩短,整个AMOLED显示器件的厚度也增加了约160μm甚至更多,另外,增加圆偏光片也会拉高AMOLED显示器件的制作成本。
发明内容
本发明的目的在于提供一种AMOLED显示器件的制作方法,能够在不增加圆偏光片的前提下,使得AMOLED显示器件具有良好的防止外部环境光反射的作用,提高AMOLED显示器件的显示亮度,延长AMOLED显示器件的使用寿命,降低AMOLED显示器件的厚度和制作成本。
本发明的目的还在于提供一种MOLED显示器件结构,具有良好的防止外部环境光反射的作用,具有较高的显示亮度与使用寿命,厚度较小、制作成本较低。
为实现上述目的,本发明提供了一种AMOLED显示器件的制作方法,包括:
在制作栅极之前沉积一层无机膜,并对该无机膜进行等离子轰击处理,使其表面粗糙化,形成栅极防反层的步骤;
以及在制作源/漏极与数据线之前沉积一层无机膜,并对该无机膜进行等离子轰击处理,使其表面粗糙化,形成蚀刻阻挡与源/漏极防反层的步骤。
所述AMOLED显示器件的制作方法包括如下步骤:
步骤1、提供一基板,在所述基板上沉积一层无机膜,并对该无机膜进行等离子轰击处理,使其表面粗糙化,形成栅极防反层;
步骤2、在所述栅极防反层上沉积第一金属层,并对该第一金属层进行图案化处理,形成栅极;
步骤3、在所述栅极及栅极防反层上沉积栅极绝缘层;
步骤4、在所述栅极绝缘层上沉积半导体膜,并对该半导体膜进行图案化处理,形成岛状有源层;
步骤5、在所述岛状有源层与栅极绝缘层上沉积一层无机膜,并对该无机膜进行等离子轰击处理,使其表面粗糙化,形成蚀刻阻挡与源/漏极防反层,再对所述蚀刻阻挡与源/漏极防反层进行图案化处理,制得分别暴露出所述岛状有源层两侧的第一过孔与第二过孔;
步骤6、在所述蚀刻阻挡与源/漏极防反层上沉积第二金属层,并对该第二金属层进行图案化处理,形成源/漏极与数据线,所述源/漏极分别通过第一过孔与第二过孔接触所述岛状有源层;
步骤7、在所述源/漏极、数据线及蚀刻阻挡与源/漏极防反层上沉积钝化保护膜,并对该钝化保护膜进行图案化处理,形成暴露出部分源/漏极的第三过孔;
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造