[发明专利]用于操作测量点的方法

说明书

本发明描述并示出了一种用于操作测量点(1)的方法，其中，由可校准的传感器(5)确定测量参量。本发明所基于的任务是，描述一种用于操作过程设备的测量点的方法，其中替代于现有技术，尤其是能够尽可能准确地规划活动，例如校准或传感器更换属于此。所述任务在所谈及的方法中通过以下方式来解决，即所述传感器(5)在可预先给定的校准时间点处被校准，分别与校准相关联的参数被储存为所述传感器(5)的参考数据的部分，并且，基于所述传感器(5)的所述参考数据来评估与所述传感器(5)不同的传感器(8，6)的与老化相关的参量。另外，本发明还涉及一种用于操作第二测量点(2)的方法。

技术领域

本发明涉及一种用于操作测量点的方法，其中，在该测量点处，由至少一个可校准的传感器确定至少一个测量参量。另外，本发明涉及一种用于操作第二测量点的方法，其中，在第二测量点处，由至少一个第二传感器确定至少一个测量参量。

背景技术

在分析测量技术的领域内，所使用的测量传感器部分地定期被更换，因为所述测量传感器遭受自然的老化。附加地，还可能出现使得需要更换的特殊情形。因此，例如在pH传感器中具有pH值7的缓冲溶液可能被污染，或者探头的电极显示错误的测量值。这样的以及还有其他传感器通常以规律的间隔被校准。

为了获得关于传感器的使用寿命的评估，在现有技术中已知，从状态或检验参数中外推将来的性能(参见例如WO 2004/025223 A2)。

这分别与传感器在其处确定至少一个测量参量的测量点有关。在此，这样的测量点的操作还涉及校准的执行或者说规划或者所使用的传感器的及时更换。后者就需要了解传感器的剩余使用寿命。

发明内容

因此，本发明所基于的任务是，描述一种用于操作过程设备的测量点的方法，其中替代于现有技术，尤其是能够尽可能准确地规划活动，例如校准或传感器更换属于此。

根据本发明的用于操作测量点的方法，其中，在测量点处由至少一个可校准的传感器确定至少一个测量参量，并且其中解决先前所引出的且阐明的任务，首先并且基本上其特征在于，所述传感器在可预先给定的校准时间点处被校准，分别至少一个与该校准相关联的参数被储存为所述传感器的参考数据的部分，并且，基于该传感器的所述参考数据来评估与该传感器不同的传感器的至少一个与老化相关的参量。

在一种扩展方案中规定，所述传感器被如此长时间地校准，直到发生传感器的功能故障为止。在这种扩展方案中，在测量点处生成或者获得在传感器的整个寿命周期上的参考数据。

在一种替代或补充的扩展方案中，所述传感器被如此长时间地校准，直到与校准相关联的数据处于可预先给定的容差带以外为止。如果例如在校准时确定出：参数处于容差带以外或者要达到的精度尽管校准仍处于容差带以外或者用于校准的持续时间已经处于容差带以外，那么该系列校准以这个传感器结束。因此，这就涉及以下情况，即所述传感器尽管本身仍能运转，但该传感器由于老化现象而不再符合由至少一个容差带所定义或者说所转化的要求。

一种扩展方案在于，将(尤其是用于校准或者达到更换状态的)时间点评估为与老化相关的参量。

在之后紧接着的扩展方案中，对于与该传感器不同的传感器，仅这样的时间点被评估，该时间点在时间上处于由所述传感器的校准时间点所展开的时间区间内。

为进行评估，尤其是借助所储存的参考数据以及与此相关联的时间范围仅进行内推(Interpolation)。尤其是避免外推(Extrapolation)对其而言不存在参考数据的时间点。

因此，如果所述参考数据例如包括所述传感器的x个月的寿命时间区间，那么，针对另一个传感器也仅评估达到直至该另一个传感器的x个月的使用寿命的这样的时间点。

因此如果例如获得位于作为零点的传感器的开始运转与时间点T之间的并且因此描述传感器的T个时间单位的使用寿命的参考数据，那么针对另一个传感器也仅评估处在所述T个时间单位内的时间点。