[发明专利]一种确定天馈系统的性能参数的方法及装置有效
申请号: | 201510369554.3 | 申请日: | 2015-06-26 |
公开(公告)号: | CN105101263B | 公开(公告)日: | 2019-05-14 |
发明(设计)人: | 李明欣;周亚东 | 申请(专利权)人: | 中国联合网络通信集团有限公司 |
主分类号: | H04W24/02 | 分类号: | H04W24/02;H04W16/18;H04W24/08 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
地址: | 100033 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 确定 系统 性能参数 方法 装置 | ||
本发明实施例公开了一种确定天馈系统的性能参数的方法及装置,涉及通信技术领域,能够提高确定无线网络的性能的准确率。本发明实施例的方法包括:获取原始数据,所述原始数据包括测量报告MR和工程参数,所述MR包括所述终端的上行数据和所述网络设备的下行数据;根据所述原始数据得到第一性能参数,所述第一性能参数用于表示天馈系统的覆盖性能。本发明适用于天馈系统。
技术领域
本发明涉及通信技术领域,尤其涉及一种确定天馈系统的性能参数的方法及装置。
背景技术
随着通信技术的发展,尤其是无线网络的普及,用户对于无线网络的性能的要求逐渐提高。工作人员可以通过对天馈系统的性能进行确定,来确定无线网络的性能,并且可以根据天馈系统的性能的确定结果来优化天馈系统,从而提高无线网络的性能。
目前,工作人员可以通过DT(Drive Test,路测)和CQT(Call Quality Test,呼叫质量拨打测试)这两种测量方法来对基站的下行数据进行采样,并通过对采样得到的下行数据进行统计、分析,确定天馈系统的覆盖性能。但是,由于采样得到的数据仅包括天馈系统的下行数据,因此,采用上述方法来确定天馈系统的覆盖性能,往往确定的是天馈系统的下行性能,而由于用于确定天馈系统的覆盖性能的维度单一,因此无法全面的确定天馈系统的覆盖性能,进而无法准确确定无线网络的性能。
发明内容
本发明实施例提供一种确定天馈系统的性能参数的方法及装置,能够提高确定无线网络的性能的准确率。
为达到上述目的,本发明实施例采用如下技术方案:
第一方面,本发明实施例提供一种确定天馈系统的性能参数的方法,所述天馈系统设置有网络设备和终端,所述方法包括:
获取原始数据,所述原始数据包括测量报告MR和工程参数,所述MR包括所述终端的上行数据和所述网络设备的下行数据;
根据所述原始数据得到第一性能参数,所述第一性能参数用于表示天馈系统的覆盖性能。
第二方面,本发明实施例提供一种确定天馈系统的性能参数的装置,所述装置包括:
获取模块,用于获取原始数据,所述原始数据包括测量报告MR和工程参数,所述MR包括所述终端的上行数据和所述网络设备的下行数据;
处理模块,用于根据所述获取模块获取的所述原始数据得到第一性能参数,所述第一性能参数用于表示天馈系统的覆盖性能。
本发明实施例提供的一种确定天馈系统的性能参数的方法及装置,获取测量报告MR和工程参数,并根据MR和工程参数得到用于表示天馈系统的覆盖性能的第一性能参数。其中,MR包括终端的上行数据和网络设备的下行数据。相比较于现有技术中通过统计、分析采样得到的下行数据来得到天馈系统的覆盖性能的确定结果,本发明实施例可以根据所获取的终端的上行数据、基站的下行数据和基站的工程参数,来确定用于表示天馈系统的覆盖性能的第一性能参数。因此,通过同时考虑天馈系统的上行性能、下行性能,以及基站的工程参数来得到的第一参数,可以确保用于确定天馈系统的覆盖性能的维度的多样性,提高了确定天馈系统的覆盖性能的准确率,从而提高了确定无线网络的性能的准确率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1为本发明实施例提供的一种确定天馈系统的性能的模型结构示意图;
图2为本发明实施例提供的一种确定天馈系统的性能参数的方法流程图;
图3为本发明实施例提供的另一种确定天馈系统的性能参数的方法流程图;
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