[发明专利]检测电路、方法和像素电路

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种检测电路、方法和像素电路。

背景技术

随着显示技术的发展，有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode，OLED)显示装置的应用越来越广泛。OLED显示装置可包括多个像素和用于驱动像素的像素驱动电路，其中，每个像素均包括OLED，像素驱动电路可包薄膜晶体管(Thin Film Transistor，简称：TFT)和电容。

在OLED显示装置中，由于每个像素对应的TFT的阈值电压Vth、迁移率、寄生电容和沟道宽度/长度等特定因素是不同的，因此OLED显示装置在显示时会产生亮度不均匀的问题。为解决上述问题，可采用数据补偿的方法对该OLED显示装置进行数据补偿，例如：通过外部补偿电路对OLED显示装置中的TFT进行数据补偿。在对TFT进行数据补偿之前，需要对OLED显示装置中的TFT的特性参数进行检测。

但是，现有技术中仅存在能够对TFT的工艺参数进行检测的电路，还没有一种既能够对TFT的特性参数进行检测又能够对OLED的特性参数进行检测的电路。

发明内容

本发明提供一种检测电路、方法和像素电路，用于实现既可以检测驱动模块的特性参数又可以检测发光器件的特性参数。

为实现上述目的，本发明提供了一种检测电路，包括：第一检测模块、第二检测模块、负载模块、发光器件和驱动模块，第一检测模块和驱动模块以及负载模块连接，第二检测模块和发光器件以及负载模块连接。

可选地，所述第一检测模块包括：第一开关管、第二开关管、第三开关管和存储电容，所述驱动模块包括驱动管；

所述第一开关管的控制极连接至第一控制线，所述第一开关管的第一极连接至数据线和负载模块，所述第一开关管的第二极连接至第三开关管的第二极和存储电容的第一端；

所述第二开关管的控制极连接至第二控制线，所述第二开关管的第一极连接至基准电源，所述第二开关管的第二极连接至驱动管的控制极和存储电容的第二端；

所述第三开关管的控制极连接至第三控制线，所述第三开关管的第一极连接至第一电源，所述第三开关管的第二极连接至驱动管的第一极和存储电容的第一端；

所述驱动管的控制极连接至存储电容的第二端，所述驱动管的第二极连接至发光器件的第一电极。

可选地，所述第二检测模块包括第四开关管，所述第四开关管的控制极连接至第四控制线，所述第四开关管的第一极连接至数据线和负载模块的第一端，所述第四开关管的第二极连接至发光器件的第一电极。

可选地，所述发光器件的第二电极连接至第二电源。

可选地，所述负载模块包括负载电容。

可选地，所述驱动模块的特性参数包括阈值电压或者电子迁移率；

所述负载模块的特性参数包括阈值电压或者电子迁移率。

为实现上述目的，本发明提供了一种像素电路，包括上述检测电路和像素补偿电路；

所述像素补偿电路用于根据所述驱动模块的特性参数对所述驱动模块进行补偿以及根据所述发光器件的特性参数对发光器件进行补偿。

为实现上述目的，本发明提供了一种检测方法，所述方法基于检测电路，所述检测电路包括：第一检测模块、第二检测模块、负载模块、发光器件和驱动模块，第一检测模块和驱动模块以及所述负载模块连接，第二检测模块和发光器件以及所述负载模块连接；

所述方法包括：

在预充电阶段，数据线向负载模块提供预充电电压；

在第一检测阶段，负载模块通过第一检测模块和驱动模块进行放电，以检测出驱动模块的特性参数；

在第二检测阶段，负载模块通过第二检测模块和发光器件进行放电，以检测出发光器件的特性参数。

可选地，所述第二检测模块包括第四开关管，所述第四开关管的控制极连接至第四控制线，所述第四开关管的第一极连接至数据线和负载模块的第一端，所述第四开关管的第二极连接至发光器件的第一电极；

所述负载模块通过第二检测模块和发光器件进行放电包括：

所述第四开关管开启，负载模块通过第四开关管和发光器件进行放电。

可选地，所述负载模块包括负载电容。

可选地，所述驱动模块包括驱动管。

本发明具有以下有益效果：

本发明提供的检测电路、方法和像素电路的技术方案中，第一检测模块和驱动模块以及负载模块连接，第二检测模块和发光器件以及负载模块连接，从而使得本发明既可以检测驱动模块的特性参数又可以检测发光器件的特性参数。