[发明专利]模式匹配型单一质量块双轴陀螺仪有效
| 申请号： | 201510378386.4 | 申请日： | 2011-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN105021178B | 公开（公告）日： | 2018-11-23 |
| 发明（设计）人： | F·阿亚兹;成王庆;M·F·扎曼 | 申请（专利权）人： | 佐治亚科技研究公司 |
| 主分类号： | G01C19/5684 | 分类号： | G01C19/5684 |
| 代理公司： | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人： | 程伟;王锦阳 |
| 地址： | 美国佐*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 介电 电极 侧向 双轴陀螺仪 垂直电容 模式匹配 电容性 共振体 质量块 宽度实质 耦接 申请 | ||
【权利要求书】：
1.一种单一质量块双轴陀螺仪设备，其包含：
共振体构件；以及
藉由侧向电容性介电间隙及垂直电容性介电间隙各自耦接于该共振体构件的多个电极；
其中，该多个电极之一的该侧向电容性介电间隙的宽度小于该多个电极的另一的该垂直电容性介电间隙的宽度。
2.根据权利要求1所述的单一质量块双轴陀螺仪设备，其中，该多个电极之一的该侧向电容性介电间隙的宽度小于该多个电极的另一的该侧向电容性介电间隙的宽度。
3.根据权利要求1所述的单一质量块双轴陀螺仪设备，其中，该多个电极之一的该垂直电容性介电间隙的宽度小于该多个电极的另一的该垂直电容性介电间隙的宽度。
4.根据权利要求1所述的单一质量块双轴陀螺仪设备，其中，于该多个电极之一中，该垂直电容性介电间隙具有与该侧向电容性介电间隙的宽度不同的宽度。
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