[发明专利]图像传感器、摄像设备和摄像设备的控制方法有效
申请号: | 201510379400.2 | 申请日: | 2015-07-01 |
公开(公告)号: | CN105245797B | 公开(公告)日: | 2018-10-23 |
发明(设计)人: | 冲田正树 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | H04N5/335 | 分类号: | H04N5/335;H04N5/232 |
代理公司: | 北京魏启学律师事务所 11398 | 代理人: | 魏启学 |
地址: | 日本东京都大*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图像传感器 摄像 设备 控制 方法 | ||
1.一种图像传感器,包括:
像素阵列,其具有图像形成像素和相位差检测像素,
其特征在于,还包括:
存储部件,其用于存储从外部控制器接收到的校正处理信息;
信息添加部件,其用于将所述相位差检测像素的位置信息和所述存储部件中所存储的校正处理信息添加至从所述像素阵列所获得的图像数据,作为所述图像数据的头信息;以及
输出部件,其用于输出包括所述头信息的图像数据。
2.根据权利要求1所述的图像传感器,其中,
所述信息添加部件将与摄像条件相对应的校正处理信息添加至所述图像数据。
3.根据权利要求2所述的图像传感器,其中,
所述摄像条件包括感光度、光圈状态和温度中的至少一个。
4.根据权利要求1所述的图像传感器,其中,
所述信息添加部件将包括摄像条件的校正处理信息添加至所述图像数据。
5.根据权利要求4所述的图像传感器,其中,
所述摄像条件包括感光度、光圈状态和温度中的至少一个。
6.根据权利要求1所述的图像传感器,其中,
所述像素阵列形成在第一半导体芯片上,并且所述信息添加部件和所述输出部件形成在第二半导体芯片上,以及
所述第一半导体芯片和所述第二半导体芯片彼此堆叠。
7.一种摄像设备,其特征在于,包括:
图像传感器,其包括:
像素阵列,其具有图像形成像素和相位差检测像素,
存储部件,其用于存储从外部控制器接收到的校正处理信息,
信息添加部件,其用于将所述相位差检测像素的位置信息和所述存储部件中所存储的校正处理信息添加至从所述像素阵列所获得的图像数据,作为所述图像数据的头信息,以及
输出部件,其用于输出包括所述头信息的图像数据;以及
图像处理部件,其用于使用所述校正处理信息和所述相位差检测像素的位置信息对所述图像数据进行预定图像处理。
8.根据权利要求7所述的摄像设备,其中,
所述图像处理部件校正所述相位差检测像素的像素数据和所述图像形成像素的像素数据之间的电平差。
9.根据权利要求7所述的摄像设备,其中,
所述图像处理部件校正所述相位差检测像素的串扰的影响。
10.根据权利要求7所述的摄像设备,其中,
所述图像处理部件包括:第一处理部件,用于对所述相位差检测像素的像素数据进行预定处理以生成拍摄图像;以及第二处理部件,用于对所述相位差检测像素的像素数据进行预定处理以生成相位差检测信号,以及
所述信息添加部件将包含所述第一处理部件要使用的校正参数的识别信息和所述第二处理部件要使用的校正参数的识别信息的校正处理信息添加至所述图像数据。
11.根据权利要求10所述的摄像设备,其中,
所述图像处理部件进一步包括分配部件,所述分配部件用于将所述校正处理信息中所包含的所述第一处理部件要使用的校正参数的识别信息和所述第二处理部件要使用的校正参数的识别信息分别分配至所述第一处理部件和所述第二处理部件。
12.根据权利要求7所述的摄像设备,其中,
所述像素阵列形成在第一半导体芯片上,并且所述信息添加部件和所述输出部件形成在第二半导体芯片上,以及
所述第一半导体芯片和所述第二半导体芯片彼此堆叠。
13.一种用于控制摄像设备的控制方法,所述摄像设备包括具有图像形成像素和相位差检测像素的像素阵列,所述控制方法的特征在于包括以下步骤:
存储步骤,用于存储从外部控制器接收到的校正处理信息;
添加步骤,用于将所述相位差检测像素的位置信息和在所述存储步骤中所存储的校正处理信息添加至从所述像素阵列所获得的图像数据,作为图像传感器中的图像数据的头信息;
输出步骤,用于从所述图像传感器输出包括所述头信息的图像数据;以及
图像处理步骤,用于使用所述校正处理信息和所述相位差检测像素的位置信息对所述图像数据进行预定图像处理。
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