[发明专利]一种用来获得无残余应力薄膜的薄膜支架在审
申请号: | 201510380760.4 | 申请日: | 2015-07-01 |
公开(公告)号: | CN104964862A | 公开(公告)日: | 2015-10-07 |
发明(设计)人: | 苏建丽 | 申请(专利权)人: | 青岛文创科技有限公司 |
主分类号: | G01N1/28 | 分类号: | G01N1/28;G01L1/26 |
代理公司: | 北京一格知识产权代理事务所(普通合伙) 11316 | 代理人: | 钟廷良 |
地址: | 266061 山东省青岛市崂山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用来 获得 残余 应力 薄膜 支架 | ||
技术领域
本发明涉及机械模具技术领域,具体的涉及一种用来获得无残余应力薄膜的薄膜支架。
背景技术
残留应力(Residual Stress)构件在制造过程中,将受到来自各种工艺等因素的作用与影响;当这些因素消失之后,若构件所受到的上述作用与影响不能随之而完全消失,仍有部分作用与影响残留在构件内,则这种残留的作用与影响。也称残余应力。残余应力是当物体没有外部因素作用时,在物体内部保持平衡而存在的应力。凡是没有外部作用,物体内部保持自相平衡的应力,称为物体的固有应力,或称为初应力,亦称为内应力。
对于残余应力测试的仪器有残余应力分析仪,其原理是基于布拉格方程2dsinθ=nλ :即一定波长的X射线照射到晶体材料上,相邻两个原子面衍射时的X射线光程差正好是波长的整数倍。通过测量衍射角变化Δθ从而得到晶格间距变化Δd,根据胡克定律和弹性力学原理,计算出材料的残余应力。一般在实际操作时采用盲孔法残余应力测量、磁测法残余应力测量和X射线衍射残余应力测量。
薄膜残余应力产生的原因分类有:(1)热应力,铸件各部分的薄厚是不一样的,如机床床身导轨部分很厚,侧壁筋板部分较薄;铸后,薄壁部分冷却速度快收缩大,而厚壁部分,冷却速度慢,收缩的小。薄壁部分的收缩受到厚壁部分的阻碍,所以薄壁部分受拉力,厚壁部分受压力。因纵向收缩差大,因而产生的拉压也大。这时铸件的温度高,薄厚壁都处于塑性状态,其压应力使厚壁部分变粗,拉应力使薄壁部分变薄,拉压应力,随塑性变形而消失。铸件逐渐冷却,当薄壁部分进入弹性状态而厚壁部分仍处于塑性时,压应力使厚壁部分产生塑性变形,继续变粗,而薄壁部分只是弹性拉长,这时拉压应力随厚壁部分变粗而消失。铸件仍继续冷却,当薄厚壁部分进入弹性区时,由于厚壁部分温度高,收缩量大。但薄壁部分阻止厚壁部分收缩,故薄壁受压应力,厚壁受拉应力。应力方向发生了变化。这种作用一直持续到室温,结果在常温下厚壁部分受拉应力,薄壁部分受压应力。这个应力是由于各部分薄厚不同。冷却速度不同,塑性变形不均匀而产生的,叫热应力。
(2) 相变应力
常用的铸铁含碳量在2.8-3.5%,属于亚共晶铸铁,在结晶过程中:厚壁部分在1153℃共晶结晶时,析出共晶石墨,产生体积膨胀 ,薄壁部分阻碍其膨胀,厚壁部分受压应力,薄壁部分受拉应力。厚壁部分因温度高,降温速度快,收缩快,所以厚壁逐渐变为受拉应力。而薄壁与其相反。在共析(738℃)前的收缩中,薄厚壁均处于塑性状态,应力虽然不断产生, 但又不断被塑性变形所松弛,应力并不大。当降到738℃时,铸铁发生共析转变,由面心立方,变为体心立方结构(既γ-Fe变为a-Fe),比容由0.124cm3/g增大到0.127cm3/g。同时有共析石墨析出,使厚壁部分伸入,产生压应力。上述的两种应力,是在1153℃ 和738℃两次相变而产生的,叫相变应力。相变应力与冷却过程中产生的热应力方向相反, 相变应力被热应力抵消。在共析转变以后,不再产生相变些力,因此铸件由与薄厚冷却速度不同所形成的热应力起主要作用。
(3) 收缩应力(亦叫机械阻碍应力)
铸件在固态收缩时,因受到铸型型芯浇冒口等的阻碍作用而产生的应力叫收缩应力。由于各部分由塑性到弹性状态转变有先有后,型芯等对收缩的阻力将在铸件内造成不均匀的的塑性变形,产生残余应力。收缩应力一般不大,多在打箱后消失。
纳米压痕试验方法是在传统的布氏和维氏硬度实验方法的基础上发展起来的新兴的力学性能试验方法,它通过连续控制和记录加卸载时的载荷和位移数据,以得到材料压痕硬度、杨氏模量、压痕蠕变、压痕松弛和断裂韧性等力学性能指标。这是一种先进的微尺度的力学测量技术。它是通过测量作用在压针上的载荷和压入样品表面的深度来获得材料的载荷-位移曲线。其压入深度一般控制在微/纳米尺度,因此要求测试仪器的位移传感器具有优于1nm的分辨率,所以称之为纳米压痕仪。
目前,基于纳米压痕测试法的模型有Suresh理论模型、Yun-Hee模型、Swadener理论以及Xu模型等,其中Suresh理论模型最为常用。但是Suresh理论模型中的无应力试样很难获得,该技术意在获得无残余应力的薄膜试样,以便计算薄膜的残余应力。
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