[发明专利]一种探测不同深度介质的方法及电路

权利要求书

1.一种探测不同深度介质的方法，其特征在于：包括如下步骤，

S01：提供一传感器，该传感器由一组PCB铜箔构成，即由一大片铜箔和两小片铜箔构成，其中，大片铜箔作为大极板，小片铜箔作为小极板；

S02：提供一可随着探测深度的变化而能够改变探测频率的深度探测信号Ftest，施加至所述步骤S01中传感器的大、小极板上，使得大、小极板形成电磁场；

S03：提供一作用于大极板的自校准信号Fcal，以调整大、小极板的相位差，从而提高探测灵敏度；

S04：对经深度探测信号Ftest驱动后的大、小极板输出的信号进行整形及相位比较，并对相位比较后的信号进行滤波后输出的信号进行处理，从而判断当前探测深度下的介质情况。

2.根据权利要求1所述的一种探测不同深度介质的方法，其特征在于：所述大、小极板分别连接有第一、第二电阻，以形成第一、第二RC电路。

3.根据权利要求1所述的一种探测不同深度介质的方法，其特征在于：所述自校准信号Fcal作用于大极板前还需经过一二阶RC滤波电路进行滤波处理。

4.根据权利要求1或3所述的一种探测不同深度介质的方法，其特征在于：所述自校准信号Fcal为由一PWM校准电路产生的频率固定占空比变化的PWM信号，通过改变PWM信号的占空比即可改变大、小极板的相位差。

5.根据权利要求1所述的一种探测不同深度介质的方法，其特征在于：所述步骤S04中对相位比较后的信号进行滤波后输出的信号进行处理是通过MCU或者模拟比较器对该信号进行处理。

6.一种探测不同深度介质的电路，其特征在于：包括MCU、传感器、电位器、第一至第三电阻、信号整形及相位比较电路、滤波电路、第一至第二二阶RC滤波电路；

所述传感器由一组PCB铜箔构成，即由一大片铜箔和两小片铜箔构成，其中，大片铜箔作为大极板，小片铜箔作为小极板；所述传感器的大、小极板分别与第一、第二电阻构成第一、第二RC电路；

所述MCU输出一可随着探测深度的变化而能够改变探测频率的深度探测信号Ftest，深度探测信号Ftest经所述电位器至所述第一、第二RC电路的输入端；所述MCU还输出一用于调整所述大、小极板相位差的自校准信号Fcal，并经第一二阶RC滤波电路、第三电阻至大极板；

所述第一、第二RC电路产生的RC信号经所述信号整形及相位比较电路、滤波电路反馈至所述MCU，经MCU处理后，判断当前探测深度下的介质情况。

7.根据权利要求6所述的一种探测不同深度介质的电路，其特征在于：所述信号整形及相位比较电路包括第一、第二与非门，所述第一与非门的第一输入端与大极板连接，第一与非门的第二输入端与第二与非门的输出端连接，并作为所述信号整形及相位比较电路的输出端，第一与非门的输出端与第二与非门的第二输入端连接，第二与非门的第一输入端与小极板连接。

8.根据权利要求6所述的一种探测不同深度介质的电路，其特征在于：所述滤波电路为第三与非门。

9.根据权利要求6所述的一种探测不同深度介质的电路，其特征在于：所述自校准信号Fcal为由MCU产生的频率固定占空比变化的PWM信号，通过改变PWM信号的占空比即可改变大、小极板的相位差。