[发明专利]核磁共振测井波谱的校正方法有效
申请号: | 201510383206.1 | 申请日: | 2015-07-02 |
公开(公告)号: | CN106324008B | 公开(公告)日: | 2018-10-16 |
发明(设计)人: | 王振林;孙中春;齐红岩;王志维;于静;王伟;黄亚雄 | 申请(专利权)人: | 中国石油天然气股份有限公司 |
主分类号: | G01N24/08 | 分类号: | G01N24/08;G01V3/38 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 赵囡囡;吴贵明 |
地址: | 100007 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 校正 核磁共振波谱 含油 弛豫率 核磁共振测井 水表面 油表面 波谱 含水 孔喉 表面弛豫率 分离模型 计算模型 对中性 叠加 分析 | ||
1.一种核磁共振测井波谱的校正方法,其特征在于,所述校正方法包括:
步骤S1,采用核磁共振波谱分离模型将中性储层的核磁共振波谱分为含水谱与含油谱;
步骤S2,采用表面弛豫率计算模型计算所述中性储层的孔隙的水表面弛豫率与油表面弛豫率;
步骤S3,利用所述油表面弛豫率计算所述中性储层的含油部分的孔喉半径分布;
步骤S4,根据所述水表面弛豫率对所述含油部分的孔喉半径分布进行校正,得到校正后的所述中性储层的含油部分的饱含水的核磁共振波谱;以及
步骤S5,对所述含水谱与所述校正的含油部分的饱含水的核磁共振波谱进行叠加,得到校正后的所述中性储层的饱含水的核磁共振波谱,
所述步骤S2包括:
步骤A,选取取心样品,测量所述取心样品的核磁共振波谱、洗油后饱含水的核磁共振波谱与所述中性储层的总孔喉半径分布;
步骤B,根据所述洗油后的饱含水的核磁共振波谱与毛管压力曲线,采用式(2)计算所述水表面弛豫率,所述式(2)为:
所述式(2)中:
ρw为所述水表面弛豫率,
θ为汞的接触角,
γ为汞的表面张力,
Ptotal为毛管压力,
T1tw,2tw为所述洗油后的饱含水的核磁共振横向弛豫时间T2tw或纵向弛豫时间T1tw,单位为ms;
步骤C,将所述取心样品的饱含油水的核磁共振波谱分为取心样品含水谱与取心样品含油谱;
步骤D,根据所述水表面弛豫率与所述取心样品含水谱,采用式(3)计算所述取心样品的含水部分的孔喉半径分布,所述式(3)为:
rw=a×ρw×T1w,2w……………….(3)
所述式(3)中:
rw为所述取心样品的含水部分的孔喉半径分布,
ρw为所述水表面弛豫率,
a为常数,当所述孔隙形状分别为圆柱形、球形、形槽状时,a分别为2、3、1,
T1w,2w为所述取心样品含水谱的横向弛豫时间T2w或纵向弛豫时间T1w;
步骤E,根据所述总孔喉半径分布与所述取心样品的含水部分的孔喉半径分布,采用式(4)计算所述取心样品的含油部分的孔喉半径分布,所述式(4)为:
所述式(4)中:
ro为所述取心样品的含油部分的孔喉半径分布,
rw为所述取心样品的含水部分的孔喉半径分布,
rtotal为所述总孔喉半径分布;
步骤F,根据所述取心样品的含油部分的孔喉半径分布与所述取心样品的含油谱,采用式(5)计算所述油表面弛豫率,所述式(5)为
所述式(5)中:
ρo为所述油表面弛豫率;
θ为所述汞的接触角,
γ为所述汞的表面张力,
a为常数,当所述孔隙形状分别为圆柱形、球形、形槽状时,a分别为2、3、1,
Po为所述中性储层含油部分的孔径对应的毛管压力,根据所述取心样品的含油部分的孔喉半径分布计算得到,
T1o,2o为所述含油谱的横向弛豫时间T2o或纵向弛豫时间T1o,
所述步骤S3包括:
根据所述油表面弛豫率与所述步骤S1中的所述含油谱,采用式(6)计算所述中性储层含油部分的孔喉半径分布,所述式(6)为:
Ro=a×ρo×T1o,2o……………….(6)
所述式(6)中:
Ro为所述中性储层含油部分的孔喉半径分布;
ρo为所述油表面弛豫率;
a为常数,当所述孔隙形状为圆柱形时取2,为球形时取3,为槽状时取1;
T1o,2o为所述含油谱的横向弛豫时间T2o或纵向弛豫时间T1o,
在所述步骤S4中,根据所述水表面弛豫率,采用式(7)对所述中性储层含油部分的孔喉半径分布进行校正,得到所述中性储层含油部分的饱含水的核磁共振波谱,所述式(7)为:
所述式(7)中:
T1jw,2jw为所述中性储层含油部分的饱含水的核磁共振波谱;
Ro为所述取心样品的含油部分的孔喉半径分布;
ρw为所述水表面弛豫率;
a为常数,当所述孔隙形状分别为圆柱形、球形、形槽状时,a分别为2、3、1。
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